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龍圖騰網獲悉之江實驗室申請的專利太赫茲動態電感熱輻射計及其制備方法及太赫茲探測系統獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN116878666B 。

龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-09-05發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202310759172.6，技術領域涉及：G01J5/46；該發明授權太赫茲動態電感熱輻射計及其制備方法及太赫茲探測系統是由張曉航;楊麗慧;宋艷汝;余詩玲;閆曉密;朱洪力;洪悅;穆堂杰;陳志偉;段然;趙志峰;馮毅;李菂設計研發完成，并于2023-06-26向國家知識產權局提交的專利申請。

本太赫茲動態電感熱輻射計及其制備方法及太赫茲探測系統在說明書摘要公布了：本發明公開了一種太赫茲動態電感熱輻射計，包括超導薄膜層、太赫茲天線、截止層和Si襯底，超導薄膜層和太赫茲天線分別沉積于截止層上，截止層沉積于Si襯底上；超導薄膜層包括超導饋線、叉指電容和電感線圈，叉指電容與電感線圈并連形成振蕩電路，太赫茲天線與電感線圈相鄰，用于將接收的太赫茲信號轉換成熱量使得電感線圈產生電感變化，通過電感變化使得叉指電容內的共振頻率發生改變，超導饋線接收變化的共振頻率，通過變化的共振頻率能夠得到太赫茲信號的光強從而完成太赫茲信號的探測。該太赫茲動態電感熱輻射計能夠準確的探測太赫茲信號，受溫度影響較少；本發明還提供了一種太赫茲動態電感熱輻射計的制備方法和太赫茲探測系統。

本發明授權太赫茲動態電感熱輻射計及其制備方法及太赫茲探測系統在權利要求書中公布了：1.一種太赫茲動態電感熱輻射計，其特征在于，包括：超導薄膜層、太赫茲天線、截止層和Si襯底，其中，超導薄膜層和太赫茲天線分別沉積于截止層上，截止層沉積于Si襯底上； 所述超導薄膜層包括超導饋線、叉指電容和電感線圈，叉指電容與電感線圈并連形成振蕩電路，太赫茲天線與電感線圈相鄰，用于將接收的太赫茲信號轉換成熱量使得電感線圈產生電感變化，通過電感變化使得叉指電容內的共振頻率發生改變，超導饋線與叉指電容耦合以接收變化的共振頻率，通過變化的共振頻率能夠得到太赫茲信號的光強從而完成太赫茲信號的探測； 所述截止層包括環繞模塊、熱連接橋和孤島模塊，環繞模塊環繞孤島模塊，且環繞模塊與孤島模塊通過熱連接橋連接； 超導饋線和叉指電容位于環繞模塊頂部，電感線圈和太赫茲天線位于孤島模塊頂部，Si襯底位于環繞模塊底部，從而使得位于孤島模塊頂部的電感線圈和太赫茲天線，與位于環繞模塊底部的Si襯底和頂部的超導饋線和叉指電容相隔離。

如需購買、轉讓、實施、許可或投資類似專利技術，可聯系本專利的申請人或專利權人之江實驗室，其通訊地址為：311121 浙江省杭州市余杭區中泰街道科創大道之江實驗室；或者聯系龍圖騰網官方客服，聯系龍圖騰網可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網”。