湖北江城實驗室陳爭妍獲國家專利權
買專利賣專利找龍圖騰,真高效! 查專利查商標用IPTOP,全免費!專利年費監控用IP管家,真方便!
龍圖騰網獲悉湖北江城實驗室申請的專利檢測方法、模型訓練方法、設備、存儲介質及程序產品獲國家發明授權專利權,本發明授權專利權由國家知識產權局授予,授權公告號為:CN117788456B 。
龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-09-05發布的發明授權授權公告中獲悉:該發明授權的專利申請號/專利號為:202410087783.5,技術領域涉及:G06T7/00;該發明授權檢測方法、模型訓練方法、設備、存儲介質及程序產品是由陳爭妍;孫遠設計研發完成,并于2024-01-22向國家知識產權局提交的專利申請。
本檢測方法、模型訓練方法、設備、存儲介質及程序產品在說明書摘要公布了:本申請提供了一種缺陷檢測方法、缺陷檢測模型訓練方法設備、存儲介質及計算機程序產品;該缺陷檢測方法包括:對待檢測PCB圖像進行特征提取處理,得到待檢測PCB圖像的待檢測特征圖;基于待檢測特征圖進行背景建模處理,得到待檢測特征圖對應的背景掩碼;基于背景掩碼去除待檢測特征圖中的背景特征,得到缺陷特征圖;基于缺陷特征圖進行分類處理,確定待檢測PCB的缺陷類別。
本發明授權檢測方法、模型訓練方法、設備、存儲介質及程序產品在權利要求書中公布了:1.一種缺陷檢測模型訓練方法,其特征在于,包括: 對原始尺度缺陷圖像進行尺度變換處理,得到變換尺度缺陷圖像; 分別對原始尺度缺陷圖像和變換尺度圖像進行缺陷類別標注,得到原始樣本圖像和變換樣本圖像; 基于所述原始樣本圖像得到原始樣本特征圖和第一背景掩碼,以及基于所述變換樣本圖像得到第二背景掩碼; 基于所述第一背景掩碼和所述第二背景掩碼確定所述缺陷檢測模型的尺度一致性損失函數和歸一化損失函數; 基于所述第一背景掩碼去除原始樣本特征圖中的背景特征,得到原始樣本缺陷特征圖;基于所述原始樣本缺陷特征圖,確定所述原始樣本圖像對應于多個類別的第一組概率值;基于所述第一組概率值計算第一交叉熵損失函數;其中,所述多個類別包括多個缺陷類別和一個背景類別; 基于原始樣本特征圖,確定所述原始樣本圖像對應于所述多個類別的第二組概率值,基于所述第二組概率值計算第二交叉熵損失函數;損失函數包括所述尺度一致性損失函數、所述歸一化損失函數、所述第一交叉熵損失函數和所述第二交叉熵損失函數。
如需購買、轉讓、實施、許可或投資類似專利技術,可聯系本專利的申請人或專利權人湖北江城實驗室,其通訊地址為:430000 湖北省武漢市武漢東湖新技術開發區光谷一路227號3號樓;或者聯系龍圖騰網官方客服,聯系龍圖騰網可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網”。
1、本報告根據公開、合法渠道獲得相關數據和信息,力求客觀、公正,但并不保證數據的最終完整性和準確性。
2、報告中的分析和結論僅反映本公司于發布本報告當日的職業理解,僅供參考使用,不能作為本公司承擔任何法律責任的依據或者憑證。