上海核工程研究設計院股份有限公司鄭征獲國家專利權
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龍圖騰網獲悉上海核工程研究設計院股份有限公司申請的專利基于遺傳算法獲得輻射屏蔽材料配比的方法及計算裝置獲國家發明授權專利權,本發明授權專利權由國家知識產權局授予,授權公告號為:CN118335217B 。
龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-09-05發布的發明授權授權公告中獲悉:該發明授權的專利申請號/專利號為:202410490397.0,技術領域涉及:G16C20/10;該發明授權基于遺傳算法獲得輻射屏蔽材料配比的方法及計算裝置是由鄭征;高靜;王夢琪;梅其良;黎輝;彭超;史濤;夏春梅;周巖;李翔設計研發完成,并于2024-04-23向國家知識產權局提交的專利申請。
本基于遺傳算法獲得輻射屏蔽材料配比的方法及計算裝置在說明書摘要公布了:一種基于遺傳算法獲得輻射屏蔽材料配比的方法,包括以下步驟:首先基于輻射屏蔽材料的成分范圍隨機生成初始種群,計算初始種群的性能參數并建立遺傳算法的目標函數,接下來進行非支配排序并利用遺傳算法對輻射屏蔽材料進行交叉和變異,根據約束條件進行迭代直至達到給定的迭代代數N,得到優化的輻射屏蔽材料配比。該方法能夠降低輻射屏蔽材料多性能參數優化所需的計算量,提高設計效率。本發明還提供一種計算裝置。
本發明授權基于遺傳算法獲得輻射屏蔽材料配比的方法及計算裝置在權利要求書中公布了:1.一種基于遺傳算法獲得輻射屏蔽材料配比的方法,其特征在于,包括以下步驟: a)提供所述輻射屏蔽材料的元素成分及配比范圍,隨機生成初始成分配比,并計算所述初始成分配比下的所述輻射屏蔽材料的性能參數fi,其中,i為由1至m的整數,m為所述性能參數的總數,所述性能參數包括屏蔽性能參數與物理參數,所述屏蔽性能參數包括中子和或光子的注量率和或劑量率,所述物理參數包括所述輻射屏蔽材料的質量、密度與體積中的至少兩項,并以UPu混合中子裂變譜和光子裂變譜作為所述性能參數的計算條件;其中,所述輻射屏蔽材料的注量率Φi,m的計算方法為: ; ; 其中,r為計算網格半徑,A為計算網格面積,V為計算網格體積,S為網格源強,Σt,i為網格i的總反應截面,w為離散縱標方法方向變量離散后的求積組權重, ; 其中ω為粒子運動方向與徑向的夾角,為粒子運動方向與軸向的夾角; b)建立遺傳算法的目標函數minFx=[f1x,……,fmx]T,其中,x=x1,…xn,并滿足: , 其中n為成分配比所包含的元素種類數,xi為其中第i種元素所占比例; c)根據所述目標函數,對所述輻射屏蔽材料進行非支配排序,利用遺傳算法對所述輻射屏蔽材料進行交叉和變異后生成新一代成分配比及對應的所述屏蔽性能參數fi; d)重復所述b)步驟與所述c)步驟進行N次迭代,得到優化的輻射屏蔽材料配比;其中N為給定的迭代代數,所述目標函數的約束條件為:若fifl,則fi=fhi+pi×fli-fifhi-fli;若fifhi,則fi=fhi+pi×fi-fhifhi-fli,其中N為給定的迭代代數,fli為fi的約束下界,fhi為fi的約束上界,pi為一給定的充分大的懲罰函數。
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