買專利賣專利找龍圖騰，真高效！ 查專利查商標用IPTOP,全免費！專利年費監控用IP管家,真方便！

龍圖騰網獲悉中國科學技術大學申請的專利一種多道微波診斷系統獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN119924807B 。

龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-09-02發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202510123106.9，技術領域涉及：H05H1/00；該發明授權一種多道微波診斷系統是由周楚;史文祥;劉阿娣;莊革設計研發完成，并于2025-01-26向國家知識產權局提交的專利申請。

本一種多道微波診斷系統在說明書摘要公布了：本發明公開了一種多道微波診斷系統，包括多道微波產生和發射系統、多普勒背向散射計DBS系統、交叉極化散射診斷CPS系統、可調頻率的參考源，多道微波產生和發射系統用于產生多道散射信號；多普勒背向散射計DBS系統與交叉極化散射診斷CPS系統集成設置，共用所述多道微波產生和發射系統，實現同步測量聚變裝置內部多個位置的局域密度漲落和磁漲落；使用可調頻率的參考源與接收的多道散射信號混頻，根據實驗需求來選擇需要測量的目標頻率點。上述系統能夠解決同步測量聚變裝置內部多個位置局域密度漲落和磁漲落的問題，同時解決梳狀譜發生器方案存在頻率峰值間功率分配不均的問題。

本發明授權一種多道微波診斷系統在權利要求書中公布了：1.一種多道微波診斷系統，其特征在于，所述系統包括多道微波產生和發射系統、多普勒背向散射計DBS系統、交叉極化散射診斷CPS系統、可調頻率的參考源，其中： 多道微波產生和發射系統用于產生多道散射信號； 所述多普勒背向散射計DBS系統與交叉極化散射診斷CPS系統集成設置，共用所述多道微波產生和發射系統，實現同步測量聚變裝置內部多個位置的局域密度漲落和磁漲落；所述多普勒背向散射計DBS系統與交叉極化散射診斷CPS系統實現同步測量聚變裝置內部多個位置的局域密度漲落和磁漲落的過程具體為： 同一探測頻率的微波在聚變裝置內等離子體截止層附近同時發生多普勒背向散射過程和交叉極化散射過程，其中： 對于多普勒背向散射過程，根據布拉格散射公式： ； 是入射波數，根據入射微波計算得到；是散射波數，背向散射過程中；是測量到的密度漲落波數； 通過追蹤探測微波在聚變裝置內等離子體中的波跡計算得到多普勒背向散射計測量到的密度漲落的波數和截止位置信息，同時截止層的運動將引入多普勒頻移，測量得到DBS多普勒頻移，測量到密度漲落的運動速度，從而實現測量聚變裝置內部局域密度漲落； 對于交叉極化散射過程，根據動量守恒： ； 截止層附近的磁漲落會垂直改變入射微波的極化方向，由于交叉極化散射發生的時刻點和位置與多普勒背向散射過程幾乎是一致的，因此與密度漲落的測量位置一樣能使用射線追蹤程序得到； 同時磁漲落波數也滿足關系：，通過測量得到CPS多普勒頻移，代入DBS系統測量到的密度漲落的運動速度，測量到實際的密度漲落波數，從而實現測量聚變裝置內部局域磁漲落； 其中，所述交叉極化散射診斷CPS系統不僅用于測量準局域磁漲落，還能同時測量到不同徑向位置磁漲落的徑向分布； 使用可調頻率的參考源與接收的多道散射信號混頻，根據實驗需求來選擇需要測量的目標頻率點，其中： 可調頻率的參考源發出的參考信號分別與DBS系統和CPS系統的接收信號混合得到中頻信號，作為IQ混頻器的RF輸入；參考信號與參考信號混頻器中的發射信號混合得到中頻信號，經過功率分配器分為兩道分別進入DBS系統和CPS系統，作為IQ混頻器的LO輸入； 參考路和接收路的中頻信號均在IQ混頻器中被解調成IQ信號，IQ信號由高速數據采集系統采集。

如需購買、轉讓、實施、許可或投資類似專利技術，可聯系本專利的申請人或專利權人中國科學技術大學，其通訊地址為：230026 安徽省合肥市包河區金寨路96號；或者聯系龍圖騰網官方客服，聯系龍圖騰網可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網”。