北京航空航天大學田捷獲國家專利權
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龍圖騰網獲悉北京航空航天大學申請的專利一種基于柔性接收線圈陣列的磁粒子成像系統及方法獲國家發明授權專利權,本發明授權專利權由國家知識產權局授予,授權公告號為:CN120178124B 。
龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-09-02發布的發明授權授權公告中獲悉:該發明授權的專利申請號/專利號為:202510654308.6,技術領域涉及:G01R33/12;該發明授權一種基于柔性接收線圈陣列的磁粒子成像系統及方法是由田捷;李光輝;安羽;楊雯纓;陳梓威設計研發完成,并于2025-05-21向國家知識產權局提交的專利申請。
本一種基于柔性接收線圈陣列的磁粒子成像系統及方法在說明書摘要公布了:本發明屬于磁粒子成像技術領域,具體涉及了一種基于柔性接收線圈陣列的磁粒子成像系統及方法,旨在解決目前的剛性接收線圈對生物表面適應性差且對于微小幾何紋理成像信噪比低的問題。本發明:結構上,接收線圈陣列粘附于待測對象表面,與補償線圈陣列分布在柔性基底兩側,接收線圈陣列用于接收磁納米粒子信號,分塊小型補償線圈陣列用于對接收線圈進行饋通干擾和電磁干擾的補償;重建方法上,依次對采集的接收信號進行傅里葉變換、提取同相三次諧波并疊加來獲得處理后的信號、插值為笛卡爾坐標分布構建正弦圖、濾波反投影方法重建出被測對象的三維粒子濃度分布。本發明采用柔性接收線圈陣列策略并提供適配性的重建方法,提高了成像信噪比。
本發明授權一種基于柔性接收線圈陣列的磁粒子成像系統及方法在權利要求書中公布了:1.一種基于柔性接收線圈陣列的磁粒子成像系統,其特征在于,所述系統包括: 第四線圈,配置為激勵磁納米粒子產生磁化響應; 驅動線圈對,配置為產生均勻交變磁場以驅動磁場自由線移動;所述驅動線圈對包括兩對電磁線圈,分別作為第二線圈對、第三線圈對;所述第二線圈對中的兩個電磁線圈對稱設置在所述第四線圈外的上下兩側;所述第三線圈對中的兩個電磁線圈對稱設置在所述第四線圈外的左右兩側; 第一磁體組,配置為在成像視野中心產生磁場自由線;所述第一磁體組包括4個磁體單元,4個磁體單元以兩個為一組,分別對稱設置在所述驅動線圈對的上下兩側;每組中的2個磁體單元并列放置; 柔性接收線圈陣列,配置為接收磁納米粒子的磁化響應信號;所述柔性接收線圈陣列包括接收線圈陣列層、支撐基底層和補償線圈陣列層;所述接收線圈陣列層為均勻平面陣列,用于接收磁化響應信號,所述均勻平面陣列中有M個接收線圈,所述接收線圈一面粘附在所述支撐基底層的內側,另一面貼附被測物體表面,所述補償線圈陣列層為分塊均勻平面陣列,用于補償接收線圈的饋通干擾和電磁干擾,所述分塊均勻平面陣列為設置在每個接收線圈的覆蓋范圍內的N個補償線圈,所述補償線圈一面粘附在支撐基底層的外側,另一面遠離被測物體,補償線圈陣列共M×N個線圈; 所述N個補償線圈同相串聯,同相串聯后與相對應的接收線圈反相串聯,所述N個補償線圈的電感之和與接收線圈電感相等且所述補償線圈的直徑小于接收線圈。
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