中國(guó)電子產(chǎn)品可靠性與環(huán)境試驗(yàn)研究所((工業(yè)和信息化部電子第五研究所)(中國(guó)賽寶實(shí)驗(yàn)室))王磊獲國(guó)家專利權(quán)
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龍圖騰網(wǎng)獲悉中國(guó)電子產(chǎn)品可靠性與環(huán)境試驗(yàn)研究所((工業(yè)和信息化部電子第五研究所)(中國(guó)賽寶實(shí)驗(yàn)室))申請(qǐng)的專利射頻器件的數(shù)據(jù)處理方法、裝置、電子設(shè)備和存儲(chǔ)介質(zhì)獲國(guó)家發(fā)明授權(quán)專利權(quán),本發(fā)明授權(quán)專利權(quán)由國(guó)家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局授予,授權(quán)公告號(hào)為:CN115032476B 。
龍圖騰網(wǎng)通過(guò)國(guó)家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局官網(wǎng)在2025-08-29發(fā)布的發(fā)明授權(quán)授權(quán)公告中獲悉:該發(fā)明授權(quán)的專利申請(qǐng)?zhí)?專利號(hào)為:202210435547.9,技術(shù)領(lǐng)域涉及:G01R31/00;該發(fā)明授權(quán)射頻器件的數(shù)據(jù)處理方法、裝置、電子設(shè)備和存儲(chǔ)介質(zhì)是由王磊;方文嘯;邵偉恒;黃權(quán);李鍵坷;來(lái)萍;路國(guó)光;黃云;恩云飛設(shè)計(jì)研發(fā)完成,并于2022-04-24向國(guó)家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局提交的專利申請(qǐng)。
本射頻器件的數(shù)據(jù)處理方法、裝置、電子設(shè)備和存儲(chǔ)介質(zhì)在說(shuō)明書摘要公布了:本申請(qǐng)涉及一種射頻器件的數(shù)據(jù)處理方法、裝置、電子設(shè)備、計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)和計(jì)算機(jī)程序產(chǎn)品。所述方法包括:獲取目標(biāo)射頻器件中封裝基板的基板測(cè)試數(shù)據(jù),基板測(cè)試數(shù)據(jù)為對(duì)封裝基板的第一測(cè)試點(diǎn)進(jìn)行測(cè)試后得到的數(shù)據(jù);獲取裝設(shè)于封裝基板的射頻元件的射頻測(cè)試數(shù)據(jù),射頻測(cè)試數(shù)據(jù)為對(duì)射頻元件的第二測(cè)試點(diǎn)進(jìn)行測(cè)試后得到的數(shù)據(jù),第二測(cè)試點(diǎn)所對(duì)應(yīng)的第二測(cè)試路徑中的至少一部分子路徑、與第一測(cè)試點(diǎn)所對(duì)應(yīng)的第一測(cè)試路徑中的至少一部分子路徑重合;根據(jù)基板測(cè)試數(shù)據(jù),對(duì)射頻測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行去嵌入處理,得到目標(biāo)射頻器件的射頻特性數(shù)據(jù)。采用本方法能夠提高射頻器件的數(shù)據(jù)處理效率。
本發(fā)明授權(quán)射頻器件的數(shù)據(jù)處理方法、裝置、電子設(shè)備和存儲(chǔ)介質(zhì)在權(quán)利要求書中公布了:1.一種射頻器件的數(shù)據(jù)處理方法,其特征在于,所述方法包括: 獲取目標(biāo)射頻器件中封裝基板的基板測(cè)試數(shù)據(jù),所述基板測(cè)試數(shù)據(jù)為對(duì)所述封裝基板的第一測(cè)試點(diǎn)進(jìn)行測(cè)試后得到的數(shù)據(jù); 獲取裝設(shè)于所述封裝基板的射頻元件的射頻測(cè)試數(shù)據(jù),所述射頻測(cè)試數(shù)據(jù)為對(duì)所述射頻元件的第二測(cè)試點(diǎn)進(jìn)行測(cè)試后得到的數(shù)據(jù),所述第二測(cè)試點(diǎn)所對(duì)應(yīng)的第二測(cè)試路徑中的至少一部分子路徑、與所述第一測(cè)試點(diǎn)所對(duì)應(yīng)的第一測(cè)試路徑中的至少一部分子路徑重合; 將所述射頻測(cè)試數(shù)據(jù)與所述基板測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行矢量相減處理,得到目標(biāo)射頻器件的射頻特性數(shù)據(jù)。
如需購(gòu)買、轉(zhuǎn)讓、實(shí)施、許可或投資類似專利技術(shù),可聯(lián)系本專利的申請(qǐng)人或?qū)@麢?quán)人中國(guó)電子產(chǎn)品可靠性與環(huán)境試驗(yàn)研究所((工業(yè)和信息化部電子第五研究所)(中國(guó)賽寶實(shí)驗(yàn)室)),其通訊地址為:511300 廣東省廣州市增城區(qū)朱村街朱村大道西78號(hào);或者聯(lián)系龍圖騰網(wǎng)官方客服,聯(lián)系龍圖騰網(wǎng)可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網(wǎng)”。
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