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龍圖騰網獲悉上海市地礦工程勘察(集團)有限公司申請的專利一種直推式取土鉆機土壤樣品采樣深度的修正方法獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN114878221B 。

龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-08-29發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202210621982.0，技術領域涉及：G01N1/08；該發明授權一種直推式取土鉆機土壤樣品采樣深度的修正方法是由潘子安;范宇;李偉;楊志龍設計研發完成，并于2022-06-02向國家知識產權局提交的專利申請。

本一種直推式取土鉆機土壤樣品采樣深度的修正方法在說明書摘要公布了：本發明公開了一種直推式取土鉆機土壤樣品采樣深度的修正方法，在該方法中，首先，確定真實地層中每層土壤層的厚度；然后，根據采樣回次內土壤樣品采集位置至該土壤層層頂的距離、采樣回次內土壤樣品所在土壤層的厚度以及真實地層中土壤樣品所在土壤層的厚度，計算修正后采樣回次內土壤樣品采集位置到所在土壤層層頂的距離；最后，根據修正后采樣回次內土壤樣品采集位置到所在土壤層層頂的距離、采樣回次數、采樣回次長度、采樣回次內土壤樣品所在土壤層層頂到該采樣回次起始位置的距離，計算修正后的土壤樣品的采樣深度。該方法能夠更精確地定位土壤樣品所在的地層。

本發明授權一種直推式取土鉆機土壤樣品采樣深度的修正方法在權利要求書中公布了：1.一種直推式取土鉆機土壤樣品采樣深度的修正方法，其特征在于，所述方法包括： 確定真實地層中每層土壤層的厚度，包括采用螺紋鉆孔螺旋鉆進確定真實地層中每層土壤層的厚度； 根據采樣回次內土壤樣品采集位置至該土壤層層頂的距離、采樣回次內土壤樣品所在土壤層的厚度以及真實地層中土壤樣品所在土壤層的厚度，計算采樣回次內土壤樣品采集位置到所在土壤層層頂的修正距離，公式如下： ； 其中，為第i個采樣回次內第i個土壤樣品采集位置到所在土壤層層頂的修正距離，為第i個采樣回次內第i個土壤樣品所在土壤層的厚度，為真實地層中第i個土壤樣品所在土壤層的厚度，為第i個采樣回次內第i個土壤樣品采集位置至第i個土壤層層頂的距離； 根據采樣回次內土壤樣品采集位置到所在土壤層層頂的修正距離、采樣回次數、采樣回次長度、采樣回次內土壤樣品所在土壤層層頂到該采樣回次起始位置的距離，計算土壤樣品的修正采樣深度，公式如下： ； 其中，為第i個土壤樣品的修正采樣深度，n為采樣回次數，L為第i個采樣回次的長度，為第i個采樣回次內第i個土壤樣品所在第i個土壤層層頂到該采樣回次起始位置的距離，為第i采樣回次內第i個土壤樣品采集位置到所在第i個土壤層層頂的修正距離。

如需購買、轉讓、實施、許可或投資類似專利技術，可聯系本專利的申請人或專利權人上海市地礦工程勘察(集團)有限公司，其通訊地址為：200040 上海市靜安區靈石路930號；或者聯系龍圖騰網官方客服，聯系龍圖騰網可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網”。