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龍圖騰網獲悉中國石油天然氣集團有限公司;中國石油集團測井有限公司申請的專利陣列感應井眼校正方法、裝置、存儲介質和處理器獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN115773101B 。

龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-08-29發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202211435926.4，技術領域涉及：E21B47/00；該發明授權陣列感應井眼校正方法、裝置、存儲介質和處理器是由藺敬旗;白彥;王先虎;曹志鋒;鄭以華;張瑋;張凱;周炬鋒;姬嘉琦;安鵬;胡鸚鸞;黃玉華;肖加奇;張艷麗;王志強;王海鵬設計研發完成，并于2022-11-16向國家知識產權局提交的專利申請。

本陣列感應井眼校正方法、裝置、存儲介質和處理器在說明書摘要公布了：本發明公開了一種陣列感應井眼校正方法、裝置、存儲介質和處理器。該方法包括：獲取陣列感應測井儀器各子陣列測量得到的測量信號；確定目標地層的井眼環境對應的井眼環境參數，采用多維空間插值法根據井眼環境參數從井眼幾何因子庫中獲取井眼環境的目標井眼幾何因子；基于徑向地層模型和測量信號，建立層析矩陣方程，求解層析矩陣方程，得到目標地層的徑向電導率分布；根據徑向地層模型和徑向電導率分布確定測量值表達式，采用井眼環境對應的目標井眼幾何因子，確定井眼校正公式；基于測量值表達式和井眼校正公式，確定校正后的目標地層的測量值，完成井眼校正。本發明解決了現有的井眼校正方法因忽略了泥漿侵入而產生的井眼校正錯誤的技術問題。

本發明授權陣列感應井眼校正方法、裝置、存儲介質和處理器在權利要求書中公布了：1.一種陣列感應井眼校正方法，其特征在于，包括： 獲取陣列感應測井儀器各子陣列測量得到的測量信號，其中，所述測量信號至少包括：電導率曲線組； 確定目標地層的井眼環境對應的井眼環境參數，采用多維空間插值法根據所述井眼環境參數從井眼幾何因子庫中獲取所述井眼環境的目標井眼幾何因子，其中，所述井眼環境參數包括：井徑、泥漿電導率、地層電導率以及偏心度，所述井眼幾何因子庫為預先建立的井眼幾何因子數據庫，所述井眼幾何因子是所述井眼環境參數的函數； 基于徑向地層模型和所述測量信號，建立層析矩陣方程，并求解所述層析矩陣方程，得到所述目標地層的徑向電導率分布，其中，所述徑向地層模型用于表征所述目標地層的電導率變化； 根據所述徑向地層模型和所述徑向電導率分布確定測量值表達式，以及采用所述井眼環境對應的所述目標井眼幾何因子，確定井眼校正公式； 基于所述測量值表達式和所述井眼校正公式，確定校正后的所述目標地層的測量值，完成井眼校正； 在采用多維空間插值法根據所述井眼環境參數從井眼幾何因子庫中獲取所述井眼環境的目標井眼幾何因子之前，所述方法還包括：確定所述井徑的變化范圍，并基于所述井徑的變化范圍確定井徑的預設數量的離散點，形成第一維度離散點集；確定所述泥漿電導率的變化范圍，并基于所述泥漿電導率的變化范圍確定泥漿電導率的預設數量的離散點，形成第二維度離散點集；確定所述地層電導率的變化范圍，并基于所述地層電導率的變化范圍確定地層電導率的預設數量的離散點，形成第三維度離散點集；確定所述偏心度的變化范圍，并基于所述偏心度的變化范圍確定偏心度的預設數量的離散點，形成第四維度離散點集；對所述第一維度離散點集、所述第二維度離散點集、所述第三維度離散點集和所述第四維度離散點集進行組合，計算得到所述各子陣列的井眼幾何因子，按照預設存放規則存放所有所述各子陣列的井眼幾何因子，構建成所述井眼幾何因子庫； 其中，在所述徑向地層模型為二層模型的情況下，所述井眼校正公式的表達式為：，其中，為i號子陣列的井眼校正后的測量值，i表示子陣列號，從1到M，i越大子陣列的探測深度越大，為測量得到的i號子陣列的視電導率，表示為第i號子陣列的井眼幾何因子。

如需購買、轉讓、實施、許可或投資類似專利技術，可聯系本專利的申請人或專利權人中國石油天然氣集團有限公司;中國石油集團測井有限公司，其通訊地址為：100007 北京市東城區東直門北大街9號；或者聯系龍圖騰網官方客服，聯系龍圖騰網可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網”。