SK恩普士有限公司洪承哲獲國家專利權
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龍圖騰網獲悉SK恩普士有限公司申請的專利半導體工藝用組合物、其制造方法和半導體器件制造方法獲國家發明授權專利權,本發明授權專利權由國家知識產權局授予,授權公告號為:CN116515400B 。
龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-08-29發布的發明授權授權公告中獲悉:該發明授權的專利申請號/專利號為:202310072545.2,技術領域涉及:C09G1/02;該發明授權半導體工藝用組合物、其制造方法和半導體器件制造方法是由洪承哲;韓德洙;樸韓址;金桓鐵;金圭勛;鄭恩先設計研發完成,并于2023-01-17向國家知識產權局提交的專利申請。
本半導體工藝用組合物、其制造方法和半導體器件制造方法在說明書摘要公布了:本發明涉及半導體工藝用組合物、其制造方法和半導體器件制造方法。本發明涉及一種半導體工藝用組合物,其適用于半導體晶片的拋光工藝,更具體而言,適用于涉及半導體晶片的拋光工藝的半導體工藝,所述半導體工藝用組合物包含拋光顆粒,在pH6的條件下,所述拋光顆粒的ZETA電位為?50mV至?10mV,并且由以下第1式表示的ZETA電位變化率為6mVpH至30mVpH,第1式:ZETA電位變化率mVpH=|Z6?Z5p6?p5|,在所述第1式中,所述p6為pH6,所述p5為pH5,所述Z6為在所述pH6條件下的ZETA電位,所述Z5為在所述pH5條件下的ZETA電位。
本發明授權半導體工藝用組合物、其制造方法和半導體器件制造方法在權利要求書中公布了:1.一種半導體工藝用組合物,其中, 包含拋光顆粒, 在pH6的條件下,所述拋光顆粒的ZETA電位為-50mV至-10mV,在pH5的條件下,所述拋光顆粒的ZETA電位為-5mV至-6mV,并且由以下第1式表示的ZETA電位變化率為14mVpH至24mVpH,由以下第4式表示的ZETA電位變化率為9.5mVpH至20mVpH,由以下第3式表示的ZETA電位變化率為8mVpH至20mVpH, 第1式: ZETA電位變化率mVpH=|Z6-Z5p6-p5| 第4式: ZETA電位變化率mVpH=|Z6-Z2p6-p2| 第3式: ZETA電位變化率mVpH=|Z6-Z1p6-p1| 在所述第1式、所述第4式和所述第3式中,所述p6為pH6,所述p5為pH5,所述p2為pH2,所述p1為pH1, 所述Z6為在所述pH6條件下的ZETA電位,所述Z5為在所述pH5條件下的ZETA電位,所述Z2為在所述pH2條件下的ZETA電位,所述Z1為在所述pH1條件下的ZETA電位。
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