武漢大學陳榮超獲國家專利權
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龍圖騰網獲悉武漢大學申請的專利一種同步輻射裝置用光柵單色器雙軸平行度檢測方法獲國家發明授權專利權,本發明授權專利權由國家知識產權局授予,授權公告號為:CN118623803B 。
龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-08-29發布的發明授權授權公告中獲悉:該發明授權的專利申請號/專利號為:202410518096.4,技術領域涉及:G01B11/27;該發明授權一種同步輻射裝置用光柵單色器雙軸平行度檢測方法是由陳榮超;唐琳;石應波;劉卯卯;梁柯林;何建華設計研發完成,并于2024-04-28向國家知識產權局提交的專利申請。
本一種同步輻射裝置用光柵單色器雙軸平行度檢測方法在說明書摘要公布了:本發明公開了一種同步輻射裝置用光柵單色器雙軸平行度檢測方法,涉及同步輻射裝置用光柵單色器技術領域,包括以下步驟:S1、設計平面工裝;S2、測量連續轉動過程中工裝面夾角數據;S3、依據工裝面夾角數據計算兩轉軸夾角。本發明設計了一套帶有高精度激光干涉測距儀的平面工裝,通過測量工裝平面在繞軸轉動過程中的工裝面夾角變化,成功計算了轉軸夾角,填補了光柵單色器雙軸平行度無法精確測量的空白,本發明為同步輻射裝置高性能線站的設計與建設提供了理論支撐和技術指導,也可用于指導光柵單色器的結構優化設計。通過測量光柵單色器兩轉軸上負載的一組平面工裝在轉動過程中面夾角的變化計算單色器的雙軸平行度。
本發明授權一種同步輻射裝置用光柵單色器雙軸平行度檢測方法在權利要求書中公布了:1.一種同步輻射裝置用光柵單色器雙軸平行度檢測方法,其特征在于,包括以下步驟: S1、設計平面工裝,所述平面工裝用于裝載在單色器上,且平面工裝由工裝F3、工裝F上裝載的反射平面鏡G4、工裝E8以及工裝E上裝載的激光干涉測距儀9組成,單色器由平行分布的光柵單色器中搭載反射鏡B的結構件1、反射平面鏡B2、光柵單色器轉軸C5、光柵單色器中搭載光柵的結構件6、光柵A7以及光柵單色器轉軸D10組成,所述光柵單色器中搭載反射鏡B的結構件1和光柵單色器中搭載光柵的結構件6分別裝載在光柵單色器轉軸C5和光柵單色器轉軸D10上; S2、測量連續轉動過程中工裝面夾角數據; S3、依據工裝面夾角數據計算兩轉軸夾角; S4、所述光柵單色器中搭載反射鏡B的結構件1頂部還設置有反射平面鏡B2,所述光柵單色器中搭載反射鏡B的結構件1頂部靠近反射平面鏡B2的一側安裝有工裝F3,所述光柵單色器中搭載光柵的結構件6靠近光柵A7頂部的一側安裝有工裝E8,所述工裝E8和工裝F3用于測量雙軸平行度,所述工裝E8上設有工裝E上裝載的激光干涉測距儀9,且工裝E上裝載的激光干涉測距儀9包括激光探頭一901、激光探頭二902和激光探頭三903; S5、所述光柵單色器中搭載光柵的結構件6的底部還設置有光柵A7,所述工裝F3的上側設置有用于反射激光的工裝F上裝載的反射平面鏡G4; S6、步驟S3的所述光柵單色器中搭載反射鏡B的結構件1、光柵單色器中搭載光柵的結構件6分別與光柵單色器轉軸C5、光柵單色器轉軸D10緊連接,可通過測量轉動過程中工裝面夾角的變化,計算出兩轉軸夾角,從而得出雙軸平行度。
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