北京納米能源與系統研究所張月銘獲國家專利權
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龍圖騰網獲悉北京納米能源與系統研究所申請的專利一種檢測裝置獲國家實用新型專利權，本實用新型專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN223284166U 。
龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-08-29發布的實用新型授權公告中獲悉：該實用新型的專利申請號/專利號為：202421981132.2，技術領域涉及：G01N27/00；該實用新型一種檢測裝置是由張月銘;朱來攀;王中林設計研發完成，并于2024-08-15向國家知識產權局提交的專利申請。
本一種檢測裝置在說明書摘要公布了：本實用新型公開了一種檢測裝置，包括：檢測單元和處理單元，檢測單元包括：依次疊層設置的第一電極、半導體納米線陣列和第二電極；第一電極與納米線之間具有第一勢壘高度，第二電極與納米線之間具有第二勢壘高度，第一勢壘高度不同于第二勢壘高度。如此，在待檢測粒子與納米線之間進行吸附，且待檢測粒子與納米線的電負性不同時，二者會之間會發生電荷轉移，在待檢測粒子與納米線解吸附時，納米線內部會出現由于電荷轉移產生的自由電荷，進一步地，由于第一勢壘高度不同于第二勢壘高度，納米線中會形成內建電場，從而納米線內的自由電荷在內建電場的作用下定向移動，并從第一電極和第二電極輸出電信號，實現了檢測單元的自驅動。
本實用新型一種檢測裝置在權利要求書中公布了：1.一種檢測裝置，其特征在于，包括：檢測單元和處理單元，所述檢測單元包括：依次疊層設置的第一電極、半導體納米線陣列和第二電極； 所述半導體納米線陣列中的納米線的延伸方向為所述第一電極和所述第二電極的排列方向；所述第二電極為網狀電極；所述第一電極與所述納米線之間具有第一勢壘高度，所述第二電極與所述納米線之間具有第二勢壘高度，所述第一勢壘高度不同于所述第二勢壘高度； 所述第一電極和所述第二電極均與所述處理單元連接，所述處理單元用于：在所述第二電極與待檢測物質接觸，并接收到通過所述第一電極和所述第二電極輸出的電信號時，根據所述電信號確定所述待檢測物質的參數；其中，所述參數包括：所述待檢測物質的種類、所述待檢測物質的組分、所述待檢測物質的濃度中的至少一種。
如需購買、轉讓、實施、許可或投資類似專利技術，可聯系本專利的申請人或專利權人北京納米能源與系統研究所，其通訊地址為：101400 北京市懷柔區雁棲經濟開發區楊雁東一路8號；或者聯系龍圖騰網官方客服，聯系龍圖騰網可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網”。
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2、報告中的分析和結論僅反映本公司于發布本報告當日的職業理解，僅供參考使用，不能作為本公司承擔任何法律責任的依據或者憑證。
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