昆山明創電子科技有限公司李俊武獲國家專利權
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龍圖騰網獲悉昆山明創電子科技有限公司申請的專利一種多用半導體芯片測試治具獲國家實用新型專利權，本實用新型專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN223272556U 。
龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-08-26發布的實用新型授權公告中獲悉：該實用新型的專利申請號/專利號為：202421756571.3，技術領域涉及：G01R1/04；該實用新型一種多用半導體芯片測試治具是由李俊武;周浪;徐建國;鐘雯;葉慎陽;歐陽凡;唐仁;吳澤恩;蔡燕;黎定設計研發完成，并于2024-07-24向國家知識產權局提交的專利申請。
本一種多用半導體芯片測試治具在說明書摘要公布了：本實用新型公開了一種多用半導體芯片測試治具，涉及芯片測試技術領域。本實用新型包括機架，所述機架的內側設置有支撐臺，所述機架的表面設置有用于控制支撐臺移動的移動調節組件，所述移動調節組件的頂面放置有多個不同規格并用于對芯片進行測試的測試座，所述測試座與測試設備電性連接，所述支撐臺的上方設置有用于對芯片進行限位的芯片定位組件，所述機架的表面還設置有用于控制測試座與芯片定位組件進行對接的提升組件，所述移動調節組件包括電機，且電機固定安裝在機架的內壁，在使用中實現了便于對芯片進行快速測試的效果，能夠根據芯片不同來選擇對應的測試座4進行測試，從而擴大了其適用范圍，使用起來更加方便靈活。
本實用新型一種多用半導體芯片測試治具在權利要求書中公布了：1.一種多用半導體芯片測試治具，其特征在于，包括機架（1），所述機架（1）的內側設置有支撐臺（3），所述機架（1）的表面設置有用于控制支撐臺（3）移動的移動調節組件（2），所述移動調節組件（2）的頂面放置有多個不同規格并用于對芯片進行測試的測試座（4），所述測試座（4）與測試設備電性連接，所述支撐臺（3）的上方設置有用于對芯片進行限位的芯片定位組件（6），所述機架（1）的表面還設置有用于控制測試座（4）與芯片定位組件（6）進行對接的提升組件（5）。
如需購買、轉讓、實施、許可或投資類似專利技術，可聯系本專利的申請人或專利權人昆山明創電子科技有限公司，其通訊地址為：215000 江蘇省蘇州市昆山市玉山鎮新城南路515號7號廠房；或者聯系龍圖騰網官方客服，聯系龍圖騰網可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網”。
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1、本報告根據公開、合法渠道獲得相關數據和信息，力求客觀、公正，但并不保證數據的最終完整性和準確性。
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