深圳市嘉德半導體技術有限公司江小俊獲國家專利權
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龍圖騰網獲悉深圳市嘉德半導體技術有限公司申請的專利閃存芯片測試板獲國家實用新型專利權,本實用新型專利權由國家知識產權局授予,授權公告號為:CN223273025U 。
龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-08-26發布的實用新型授權公告中獲悉:該實用新型的專利申請號/專利號為:202422006435.9,技術領域涉及:G11C29/56;該實用新型閃存芯片測試板是由江小俊;樂群英;樂群建設計研發完成,并于2024-08-19向國家知識產權局提交的專利申請。
本閃存芯片測試板在說明書摘要公布了:本實用新型提供閃存芯片測試板,涉及芯片測試技術領域。該閃存芯片測試板,包括測試基板,所述測試基板前側設置有插座,所述測試基板中部設置有測試座;所述測試座中部開設有凹槽,所述測試座兩側均設置有若干個安裝槽觸點,所述測試基板后側固定有固定架,所述固定架上設置有連接結構,連接結構上設置有調節板和壓制架;連接結構能夠帶著調節板和壓制架以凹槽深度方向做滑動,以調節不同壓力進行夾持。該閃存芯片測試板,通過人力轉動絲桿進行旋轉作業,實現可調節夾持的效果,達到提高芯片測試板實用性的作用,通過人力拉動移動架進行移動作業,實現便捷取料的效果,達到提高芯片測試板使用便捷性的作用。
本實用新型閃存芯片測試板在權利要求書中公布了:1.閃存芯片測試板,包括測試基板1,其特征在于:所述測試基板1前側設置有插座2,所述測試基板1中部設置有測試座3; 所述測試座3中部開設有凹槽4,所述測試座3兩側均設置有若干個安裝槽觸點5,所述測試基板1后側固定有固定架6,所述固定架6上設置有連接結構,連接結構上設置有調節板8和壓制架11;連接結構能夠帶著調節板8和壓制架11以凹槽4深度方向做滑動,以調節不同壓力進行夾持。
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