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龍圖騰網(wǎng)獲悉蘇州蘇南捷邁得醫(yī)療器械有限公司申請的專利基于圖像處理的金屬接骨螺釘缺陷檢測方法獲國家發(fā)明授權(quán)專利權(quán)，本發(fā)明授權(quán)專利權(quán)由國家知識產(chǎn)權(quán)局授予，授權(quán)公告號為：CN119338754B 。

龍圖騰網(wǎng)通過國家知識產(chǎn)權(quán)局官網(wǎng)在2025-08-26發(fā)布的發(fā)明授權(quán)授權(quán)公告中獲悉：該發(fā)明授權(quán)的專利申請?zhí)?專利號為：202411317824.1，技術(shù)領(lǐng)域涉及：G06T7/00；該發(fā)明授權(quán)基于圖像處理的金屬接骨螺釘缺陷檢測方法是由錢俊;朱政設(shè)計(jì)研發(fā)完成，并于2024-09-20向國家知識產(chǎn)權(quán)局提交的專利申請。

本基于圖像處理的金屬接骨螺釘缺陷檢測方法在說明書摘要公布了：本發(fā)明公開了基于圖像處理的金屬接骨螺釘缺陷檢測方法，涉及螺釘缺陷檢測技術(shù)領(lǐng)域，包括如下步驟：搭建螺釘圖像采集場景，對螺釘圖像進(jìn)行采集；對采集得到的螺釘圖像進(jìn)行預(yù)處理，提取出螺釘精確圖像；對螺釘精確圖像中的螺紋進(jìn)行區(qū)域劃分，得到螺紋分區(qū)；對螺紋分區(qū)進(jìn)行缺陷分析，判斷螺紋分區(qū)是否存在缺陷；本發(fā)明用于解決現(xiàn)有的螺釘缺陷檢測技術(shù)還存在過于依賴預(yù)設(shè)的閾值，主觀影響力過大，導(dǎo)致螺釘?shù)娜毕輽z測結(jié)果易出現(xiàn)錯(cuò)誤的問題。

本發(fā)明授權(quán)基于圖像處理的金屬接骨螺釘缺陷檢測方法在權(quán)利要求書中公布了：1.基于圖像處理的金屬接骨螺釘缺陷檢測方法，其特征在于，包括如下步驟： 搭建螺釘圖像采集場景，對螺釘圖像進(jìn)行采集； 對采集得到的螺釘圖像進(jìn)行預(yù)處理，提取出螺釘精確圖像； 對螺釘精確圖像中的螺紋進(jìn)行區(qū)域劃分，得到螺紋分區(qū)； 對螺紋分區(qū)進(jìn)行缺陷分析，判斷螺紋分區(qū)是否存在缺陷； 對螺釘精確圖像中的螺紋進(jìn)行區(qū)域劃分，得到螺紋分區(qū)包括如下子步驟： 對螺釘精確圖像中的圖像像素點(diǎn)進(jìn)行編號，并提取出屬于螺釘?shù)穆葆斚袼攸c(diǎn)； 對螺釘像素點(diǎn)進(jìn)行區(qū)域劃分，得到螺紋分區(qū)； 對螺釘精確圖像中的圖像像素點(diǎn)進(jìn)行編號，并提取出屬于螺釘?shù)穆葆斚袼攸c(diǎn)包括如下子步驟： 獲取螺釘精確圖像中的圖像像素點(diǎn)的灰度值，命名為圖像灰度值； 剔除圖像灰度值為255的圖像像素點(diǎn)，將剩余的像素點(diǎn)命名為螺釘像素點(diǎn)； 將螺釘像素點(diǎn)組成的圖像補(bǔ)全為矩形，標(biāo)記為補(bǔ)全圖像，將補(bǔ)全圖像中的空白部分還原為圖像灰度值為255的圖像像素點(diǎn)； 將補(bǔ)全圖像中的像素點(diǎn)命名為待分析像素點(diǎn)，對待分析像素點(diǎn)進(jìn)行編號，命名為待分析編號，通過符號Pn,m表示，其中，n以及m為正整數(shù)，Pn,m表示在補(bǔ)全圖像中位于第n列第m行的待分析像素點(diǎn)； 整合所有圖像灰度值不為255的待分析像素點(diǎn)，將它們整合命名為螺釘像素點(diǎn)，將螺釘像素點(diǎn)的待分析編號命名為螺釘像素編號； 對螺釘像素點(diǎn)進(jìn)行區(qū)域劃分，得到螺紋分區(qū)包括如下子步驟： 以任意螺釘像素點(diǎn)為目標(biāo)，標(biāo)記為中心像素點(diǎn)，獲取與中心像素點(diǎn)相鄰的左方、左上方以及上方的待分析像素點(diǎn)，標(biāo)記為左鄰點(diǎn)、左上鄰點(diǎn)以及上鄰點(diǎn)； 檢測左鄰點(diǎn)、左上鄰點(diǎn)以及上鄰點(diǎn)是否為螺釘像素點(diǎn)，若左鄰點(diǎn)、左上鄰點(diǎn)以及上鄰點(diǎn)均不為螺釘像素點(diǎn)，則輸出區(qū)域邊界信號；否則輸出區(qū)域內(nèi)部信號； 獲取輸出區(qū)域邊界信號的螺釘像素點(diǎn)，標(biāo)記為邊界標(biāo)點(diǎn)，并將其灰度值更改為0，用于在補(bǔ)全圖像中進(jìn)行標(biāo)注； 按照從上到下的順序?qū)吔鐦?biāo)點(diǎn)進(jìn)行排序編號，通過符號Si表示，其中，i為正整數(shù)且i為S的序號； 以i=1為起始，獲取Si與Si+1的Pn,m，將Si的Pn,m對應(yīng)的n和m分別標(biāo)記為h和q，將Si+1的Pn,m對應(yīng)的n和m分別標(biāo)記為g和p； 獲取Pn,q至Pn,p之間的螺釘像素點(diǎn)，標(biāo)記為區(qū)域像素點(diǎn)；獲取區(qū)域像素點(diǎn)的Pn,m中n的最大值，標(biāo)記為k，將h和g的最小值標(biāo)記為f； 將f≤n≤k且q≤m≤p的Pn,m整合為一個(gè)螺紋分區(qū)，將i加一并重新分析，直至i=maxi-1時(shí)停止分析，得到若干螺紋分區(qū)，其中，maxi為i的最大值。

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