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龍圖騰網(wǎng)獲悉華興源創(chuàng)(成都)科技有限公司申請的專利目標(biāo)物表面無損測量裝置獲國家實(shí)用新型專利權(quán)，本實(shí)用新型專利權(quán)由國家知識產(chǎn)權(quán)局授予，授權(quán)公告號為：CN223272439U 。

龍圖騰網(wǎng)通過國家知識產(chǎn)權(quán)局官網(wǎng)在2025-08-26發(fā)布的實(shí)用新型授權(quán)公告中獲悉：該實(shí)用新型的專利申請?zhí)?專利號為：202422755014.6，技術(shù)領(lǐng)域涉及：G01N21/88；該實(shí)用新型目標(biāo)物表面無損測量裝置是由孫逸;姚憲;姚夏設(shè)計(jì)研發(fā)完成，并于2024-11-12向國家知識產(chǎn)權(quán)局提交的專利申請。

本目標(biāo)物表面無損測量裝置在說明書摘要公布了：本申請涉及一種目標(biāo)物表面無損測量裝置。所述裝置包括：第一光源、鏡頭、線性二向色鏡，第一圖像傳感器以及第二圖像傳感器；其中，第一光源對具有光致發(fā)光材料的目標(biāo)物發(fā)射第一激發(fā)光，利用線性二向色鏡透過率隨著波長的增加而增加的特點(diǎn)，通過對第一圖像傳感器獲取的透過線性二向色鏡的目標(biāo)物探測光的第一灰度圖像和第二圖像傳感器獲取的反射線性二向色鏡的目標(biāo)物探測光的第二灰度圖像進(jìn)行圖像處理，得到目標(biāo)物每一點(diǎn)的質(zhì)心光譜，進(jìn)而得到目標(biāo)物的表面信息。本申請通過無接觸式的檢測裝置，可避免探針對MicroLED芯片的電極與表面造成物理損傷，從而能夠?qū)A級的MicroLED進(jìn)行檢測以便實(shí)現(xiàn)壞點(diǎn)的攔截，提升MicroLED顯示屏良品率。

本實(shí)用新型目標(biāo)物表面無損測量裝置在權(quán)利要求書中公布了：1.一種目標(biāo)物表面無損測量裝置，其特征在于，包括： 第一光源，用于對目標(biāo)物發(fā)出第一激發(fā)光；所述目標(biāo)物包括光致發(fā)光材料； 鏡頭，接收并調(diào)節(jié)所述目標(biāo)物被所述第一激發(fā)光激發(fā)的目標(biāo)物探測光； 線性二向色鏡，至少透過部分所述目標(biāo)物探測光并至少反射部分所述目標(biāo)物探測光；所述線性二向色鏡的透過率隨著波長的增加而增加，反射率隨著波長的減少而減少； 第一圖像傳感器，布置在所述線性二向色鏡的透射光路上，得到所述線性二向色鏡透射的目標(biāo)物探測光的第一灰度圖像；以及 第二圖像傳感器，布置在所述線性二向色鏡的反射光路上，得到所述線性二向色鏡反射的目標(biāo)物探測光的第二灰度圖像； 其中，通過對所述第一灰度圖像和所述第二灰度圖像進(jìn)行圖像處理，得到所述目標(biāo)物每一點(diǎn)的質(zhì)心光譜；并基于所述目標(biāo)物每一點(diǎn)的質(zhì)心光譜，得到所述目標(biāo)物的表面信息。

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