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龍圖騰網(wǎng)獲悉湖北珞珈實(shí)驗(yàn)室申請的專利一種基于倒影特征的場景微波輻射率測量方法獲國家發(fā)明授權(quán)專利權(quán)，本發(fā)明授權(quán)專利權(quán)由國家知識產(chǎn)權(quán)局授予，授權(quán)公告號為：CN120142772B 。

龍圖騰網(wǎng)通過國家知識產(chǎn)權(quán)局官網(wǎng)在2025-08-26發(fā)布的發(fā)明授權(quán)授權(quán)公告中獲悉：該發(fā)明授權(quán)的專利申請?zhí)?專利號為：202510494547.X，技術(shù)領(lǐng)域涉及：G01R29/08；該發(fā)明授權(quán)一種基于倒影特征的場景微波輻射率測量方法是由盧海梁;范清彪;金濤勇;陳杰恰設(shè)計研發(fā)完成，并于2025-04-21向國家知識產(chǎn)權(quán)局提交的專利申請。

本一種基于倒影特征的場景微波輻射率測量方法在說明書摘要公布了：本發(fā)明公開了一種基于倒影的場景微波輻射率測量方法，包括：將觀測目標(biāo)置于一平坦面，微波輻射計接收以相同出射角出射的，來自觀測目標(biāo)和冷空經(jīng)觀測目標(biāo)反射的微波，獲取第一輸出電壓；將觀測目標(biāo)置于一平坦面，微波輻射計接收以相同出射角出射的，來自觀測目標(biāo)、冷空經(jīng)參考墻反射后再經(jīng)觀測目標(biāo)反射和參考墻經(jīng)觀測目標(biāo)反射的微波，獲取第二輸出電壓；微波輻射計接收以出射角出射的冷空經(jīng)參考墻反射的微波，獲取第三輸出電壓；微波輻射計接收以出射角出射的冷空的微波，獲取第四輸出電壓；計算觀測目標(biāo)在出射角時的輻射率。該輻射率快速測量方法無需經(jīng)過絕對定標(biāo)即可計算得到觀測目標(biāo)的微波輻射率，具有硬件需求少、流程操作簡單等優(yōu)點(diǎn)。

本發(fā)明授權(quán)一種基于倒影特征的場景微波輻射率測量方法在權(quán)利要求書中公布了：1.一種基于倒影的目標(biāo)微波輻射率測量方法，其特征在于，包括以下步驟： 搭建第一場景，將觀測目標(biāo)置于一平坦面，設(shè)置微波輻射計的入射角，通過微波輻射計接收來自觀測目標(biāo)和冷空經(jīng)觀測目標(biāo)反射的微波電磁信號，獲取第一輸出電壓； 搭建第二場景，將觀測目標(biāo)置于一平坦面，設(shè)置微波輻射計的入射角，設(shè)置參考墻，微波輻射計接收來自觀測目標(biāo)、冷空經(jīng)參考墻反射后再經(jīng)觀測目標(biāo)反射和參考墻經(jīng)觀測目標(biāo)反射的微波電磁信號，獲取第二輸出電壓； 搭建第三場景，設(shè)置參考墻，設(shè)置微波輻射計的入射角，微波輻射計接收來自參考墻和冷空經(jīng)參考墻反射的微波電磁信號，獲取第三輸出電壓； 搭建第四場景，設(shè)置微波輻射計的入射角，微波輻射計直接接收冷空的微波電磁信號，獲取第四輸出電壓； 計算觀測目標(biāo)在微波輻射計的入射角時的輻射率；所述計算觀測目標(biāo)在微波輻射計的入射角θ時的輻射率的方法為： 其中，為觀測目標(biāo)在微波輻射計的入射角θ時的輻射率，、、和分別為在微波輻射計的入射角θ時的第一、二、三和四輸出電壓值； 其中，四個場景的微波輻射計的入射角相同；所述微波輻射計的入射角為微波電磁信號在最后一個反射面的入射角或者直接入射時等效于鏡面反射的入射角。

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