深圳市曼恩斯特科技股份有限公司龍兵獲國家專利權
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龍圖騰網獲悉深圳市曼恩斯特科技股份有限公司申請的專利超聲波面密度測量方法、系統及設備獲國家發明授權專利權,本發明授權專利權由國家知識產權局授予,授權公告號為:CN120121465B 。
龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-08-26發布的發明授權授權公告中獲悉:該發明授權的專利申請號/專利號為:202510600435.8,技術領域涉及:G01N9/24;該發明授權超聲波面密度測量方法、系統及設備是由龍兵;彭建林設計研發完成,并于2025-05-12向國家知識產權局提交的專利申請。
本超聲波面密度測量方法、系統及設備在說明書摘要公布了:本發明提供了一種超聲波面密度測量方法、系統及設備,涉及超聲波測量領域,該方法利用多個采樣點能夠精確計算出超聲波信號的偏移角,從而在超聲波面密度測量設備的使用過程中因待測物體移動導致的采集點偏移進行實時信號補償,從而顯著提高測量精度,提升生產效率。
本發明授權超聲波面密度測量方法、系統及設備在權利要求書中公布了:1.一種超聲波面密度測量方法,其特征在于,所述方法應用于超聲波面密度測量設備中,所述方法包括: 按照預設發射頻率控制所述超聲波面密度測量設備向待測物體發射脈沖式的超聲波后,控制所述超聲波面密度測量設備中的接收換能器實時接收經過所述待測物體后的超聲波信號; 基于所述接收換能器對應的采集參數在所述超聲波信號的單一周期內采集多個采樣點,并將所述多個采樣點中振幅最大的采樣點確定為第一采樣點; 確定所述第一采樣點相鄰的第二采樣點,并根據所述第一采樣點和所述第二采樣點的坐標數據計算所述超聲波信號的偏移角; 通過所述偏移角生成所述待測物體的角度補償策略,并基于所述角度補償策略控制所述超聲波面密度測量設備對所述待測物體進行面密度測量; 所述基于所述接收換能器對應的采集參數在所述超聲波信號的單一周期內采集多個采樣點,并將所述多個采樣點中振幅最大的采樣點確定為第一采樣點,包括: 利用所述接收換能器對應的采集頻率確定所述超聲波面密度測量設備對應的脈沖寬度調制曲線; 獲取所述脈沖寬度調制曲線中對應的脈沖寬度,并基于所述脈沖寬度確定所述采集參數; 確定所述超聲波信號中單一周期對應的余弦曲線,利用所述采集參數在所述余弦曲線中采集多個采樣點,并將所述多個采樣點中振幅最大的采樣點確定為第一采樣點; 所述通過所述偏移角生成所述待測物體的角度補償策略,并基于所述角度補償策略控制所述超聲波面密度測量設備對所述待測物體進行面密度測量,包括: 基于所述余弦曲線對應的坐標系確定所述余弦曲線的振幅位置,并確定所述第一采樣點與所述振幅位置之間的相位差; 利用所述偏移角和所述相位差生成所述待測物體的角度補償策略,并基于所述角度補償策略生成所述超聲波面密度測量設備對應的測量參數,使得所述超聲波面密度測量設備在當前所述測量參數下所述第一采樣點與所述振幅位置重合; 利用所述測量參數控制所述超聲波面密度測量設備對所述待測物體進行面密度測量。
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