上川精密科技(無錫)有限公司曹國平獲國家專利權
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龍圖騰網獲悉上川精密科技(無錫)有限公司申請的專利一種基于全檢式面密度掃描儀的干濕膜協同控制方法獲國家發明授權專利權,本發明授權專利權由國家知識產權局授予,授權公告號為:CN120295104B 。
龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-08-26發布的發明授權授權公告中獲悉:該發明授權的專利申請號/專利號為:202510781118.0,技術領域涉及:G05B11/42;該發明授權一種基于全檢式面密度掃描儀的干濕膜協同控制方法是由曹國平;徐丁峰;李嘉強;楊旭東設計研發完成,并于2025-06-12向國家知識產權局提交的專利申請。
本一種基于全檢式面密度掃描儀的干濕膜協同控制方法在說明書摘要公布了:本發明涉及干濕膜協同控制技術領域,具體涉及一種基于全檢式面密度掃描儀的干濕膜協同控制方法。本發明方法在干膜檢測點與濕膜檢測點都采用全檢式面密度掃描儀檢測,并匹配干膜面密度及濕膜原始面密度執行在線擬合,建立干濕膜參數映射模型,對擬合模型進行循環校驗核查皮爾遜相關系數和一致性區間寬度,若皮爾遜相關系數和一致性區間寬度均符合濕膜控制標準則進入人工決策層,人工層判斷可以啟用濕膜控制后執行濕膜控制算法,否則轉為干膜控制。本發明方法建立雙閉環控制系統,并采用皮爾遜相關系數與一致性區間寬度雙重校驗機制保證擬合數據的可靠性。
本發明授權一種基于全檢式面密度掃描儀的干濕膜協同控制方法在權利要求書中公布了:1.一種基于全檢式面密度掃描儀的干濕膜協同控制方法,其特征在于:包括如下步驟, 步驟一、選擇起涂模式,系統初始化后首先選擇起涂模式,起涂模式選擇濕膜起涂或者干膜起涂;選擇干膜起涂進入干膜控制;選擇濕膜起涂則進入步驟二; 步驟二、判斷是否達到預設起涂長度,若未達到預設起涂長度則進入干膜控制;若達到預設起涂長度則進入步驟三; 步驟三、判斷是否為第一次控制或上一次控制為干膜控制,若否則進入干膜控制;若是則進入步驟四; 步驟四、在線擬合,調用全檢式面密度掃描儀采集的前N趟濕膜原始面密度與前N趟干膜面密度執行在線擬合; 步驟五、循環校驗,皮爾遜相關系數及一致性區間寬度是否符合濕膜控制標準;若皮爾遜相關系數和一致性區間寬度全部符合濕膜控制標準則進入步驟六;若皮爾遜相關系數和一致性區間寬度有任一項不符合濕膜控制標準則進入干膜控制; 步驟六、界面選擇是否需要進行濕膜控制,選擇需要則進入步驟七; 步驟七、濕膜控制; 步驟四中在線擬合過程如下, a.濕膜原始面密度采集:全檢式面密度掃描儀已連續采集前N趟濕膜原始面密度集合, , b.干膜面密度采集:全檢式面密度掃描儀已連續采集與濕膜匹配的N趟干膜面密度集合D,; c.采用線性回歸模型建立干膜面密度與濕膜原始面密度的映射關系: , 其中為截距,為斜率,為第i趟的干膜面密度,為第i趟的濕膜原始面密度; d.通過最小二乘法求取參數、; 皮爾遜相關系數計算過程如下: , , 其中,為第i趟的濕膜原始面密度,為N趟濕膜原始面密度的均值;為第i趟的濕膜原始面密度擬合后的干膜面密度,為N趟濕膜原始面密度擬合后的干膜面密度均值;r為皮爾遜相關系數; 一致性區間寬度的計算過程如下: ; ; ; ; 其中,為一致性區間寬度,為檢測干膜面密度與濕膜原始面密度擬合值的差值標準差,為檢測干膜面密度與濕膜原始面密度擬合值的均差值,為分區第i趟的濕膜原始面密度擬合后的干膜面密度與第i趟的干膜面密度的差值,t為分區數,為濕膜原始面密度擬合后的干膜面密度集合,,為第i趟的濕膜原始面密度擬合后的干膜面密度。
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