中國航空工業(yè)集團公司北京長城計量測試技術研究所錢豐獲國家專利權
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龍圖騰網(wǎng)獲悉中國航空工業(yè)集團公司北京長城計量測試技術研究所申請的專利一種多基準的標準花鍵量規(guī)及使用方法獲國家發(fā)明授權專利權，本發(fā)明授權專利權由國家知識產(chǎn)權局授予，授權公告號為：CN114964107B 。
龍圖騰網(wǎng)通過國家知識產(chǎn)權局官網(wǎng)在2025-08-22發(fā)布的發(fā)明授權授權公告中獲悉：該發(fā)明授權的專利申請?zhí)?專利號為：202210532243.4，技術領域涉及：G01B21/08；該發(fā)明授權一種多基準的標準花鍵量規(guī)及使用方法是由錢豐;孫玉玖;王愛軍;王一璋設計研發(fā)完成，并于2022-05-09向國家知識產(chǎn)權局提交的專利申請。
本一種多基準的標準花鍵量規(guī)及使用方法在說明書摘要公布了：本發(fā)明公開的是一種多基準的標準花鍵量規(guī)，屬于測量工具技術領域。本發(fā)明公開的是一種多基準的標準花鍵量規(guī)，包括芯軸、與所述芯軸同軸設置的標準花鍵量規(guī)、第一圓柱基準軸、第二圓柱基準軸及圓錐基準軸；所述芯軸包括同軸設于兩端的第一頂尖孔及第二頂尖孔；所述第一圓柱基準軸、所述標準花鍵量規(guī)、所述第二圓柱基準軸及所述圓錐基準軸依次同軸設置；所述標準花鍵量規(guī)的本身齒距誤差、齒形誤差、齒向誤差均小于5微米。本發(fā)明的一種多基準標準花鍵量規(guī)，加工和測量基準一致，最大限度減小測量基準對齒厚測量的影響，方便評價齒厚參數(shù)的測量準確度。
本發(fā)明授權一種多基準的標準花鍵量規(guī)及使用方法在權利要求書中公布了：1.一種多基準的標準花鍵量規(guī)，其特征在于：包括芯軸、與所述芯軸同軸設置的標準花鍵量規(guī)、第一圓柱基準軸、第二圓柱基準軸及圓錐基準軸；所述芯軸包括同軸設于兩端的第一頂尖孔及第二頂尖孔； 所述第一圓柱基準軸、所述標準花鍵量規(guī)、所述第二圓柱基準軸及所述圓錐基準軸依次同軸設置； 所述標準花鍵量規(guī)的本身齒距誤差、齒形誤差、齒向誤差均小于5微米。
如需購買、轉讓、實施、許可或投資類似專利技術，可聯(lián)系本專利的申請人或專利權人中國航空工業(yè)集團公司北京長城計量測試技術研究所，其通訊地址為：100095 北京市海淀區(qū)溫泉鎮(zhèn)環(huán)山村；或者聯(lián)系龍圖騰網(wǎng)官方客服，聯(lián)系龍圖騰網(wǎng)可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網(wǎng)”。
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1、本報告根據(jù)公開、合法渠道獲得相關數(shù)據(jù)和信息，力求客觀、公正，但并不保證數(shù)據(jù)的最終完整性和準確性。
2、報告中的分析和結論僅反映本公司于發(fā)布本報告當日的職業(yè)理解，僅供參考使用，不能作為本公司承擔任何法律責任的依據(jù)或者憑證。
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