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龍圖騰網獲悉北京理工大學申請的專利基于微波局部穿透效應的非均勻等離子體參數診斷方法獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN119757837B 。

龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-09-26發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202411904715.X，技術領域涉及：G01R19/08；該發明授權基于微波局部穿透效應的非均勻等離子體參數診斷方法是由黃曉偉;劉詩音;徐浩;盛新慶設計研發完成，并于2024-12-23向國家知識產權局提交的專利申請。

本基于微波局部穿透效應的非均勻等離子體參數診斷方法在說明書摘要公布了：本發明提供了一種基于微波局部穿透效應的非均勻等離子體參數診斷方法，涉及電磁學技術領域與等離子體診斷技術領域，包括等離子體剖面電子密度分布以及碰撞頻率的聯合診斷，本發明中分層對峰值左側等離子體建模并實現了迭代優化分布結果；本發明利用反射系數幅度斜率最大值推導等離子體電子密度峰值；本發明針對峰值右側等離子體，進行多種分布模型建模，通過衰減系數確定模型；同時，本發明利用反射系數幅度最大值完成對碰撞頻率的診斷。本發明解決了非均勻等離子體剖面參數診斷的問題。

本發明授權基于微波局部穿透效應的非均勻等離子體參數診斷方法在權利要求書中公布了：1.一種基于微波局部穿透效應的非均勻等離子體參數診斷方法，其特征在于，包括以下步驟： S1、獲取等離子體反射系數的幅度和相位曲線，其中，等離子體反射系數的相位曲線用于按照入射頻率查詢實際反射系數相位； S2、搜索掃頻等離子體反射系數幅度下降斜率最大值，確定峰值電子密度，其中，該最大值的頻率為峰值電子密度對應的截止頻率fc； S3、將待診斷厚度為d的等離子體，根據非均勻劃分為N個空間分辨單元，并額外在L為1層前引入第0層，其中，每一個空間分辨單元的厚度根據峰值電子密度對應截止頻率fc、入射頻率finc最大值對應波長的13進行劃分； S4、將碰撞頻率的反演初值置于接近0的數； S5、基于局部穿透效應和非均勻劃分結果，迭代反演等離子體密度上升沿剖面； S6、在初始反演頻率f1處，逐步增大碰撞頻率，直至在該頻率點的上升沿反演剖面的反射系數幅度接近實測曲線的反射系數幅度，該值即為碰撞頻率反演值，完成碰撞頻率診斷；其中，該值為使上升沿反演剖面的反射系數幅度接近實測曲線的反射系數幅度的碰撞頻率； S7、基于碰撞頻率診斷結果，進行多種分布的建模，通過等離子體反射系數的幅度確定衰減系數，并通過衰減系數掃頻得到反射系數幅度曲線； S8、將反射系數幅度曲線與標準幅度曲線進行對比，判斷反射系數幅度曲線的第二個拐點處是否與標準幅度曲線最接近，若是，則完成下降沿分布診斷，否則，返回步驟S7。

如需購買、轉讓、實施、許可或投資類似專利技術，可聯系本專利的申請人或專利權人北京理工大學，其通訊地址為：100081 北京市海淀區中關村南大街5號；或者聯系龍圖騰網官方客服，聯系龍圖騰網可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網”。