積分幾何科學公司木村建次郎獲國家專利權
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龍圖騰網獲悉積分幾何科學公司申請的專利散射斷層成像裝置以及散射斷層成像方法獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN114144108B 。
龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-09-23發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202080052171.2，技術領域涉及：A61B5/0507；該發明授權散射斷層成像裝置以及散射斷層成像方法是由木村建次郎;木村憲明設計研發完成，并于2020-07-28向國家知識產權局提交的專利申請。
本散射斷層成像裝置以及散射斷層成像方法在說明書摘要公布了：散射斷層成像裝置100具備：發送天線元件101，從物體的外部向物體的內部發送電波；接收天線元件102，在物體的外部接收被發送到物體的內部的電波的散射波；信息處理電路103，利用示出由接收天線元件102接收的散射波的測量數據，生成示出物體的內部的圖像，信息處理電路103利用測量數據，導出滿足以散射場函數為解的方程式的關系式，利用關系式，導出圖像函數，利用圖像函數來生成圖像，所述圖像函數是反應了按照德拜弛豫來示出電波的頻率變化與物體的介電常數變化的對應關系的參數的函數。
本發明授權散射斷層成像裝置以及散射斷層成像方法在權利要求書中公布了：1.一種散射斷層成像裝置， 所述散射斷層成像裝置具備： 發送天線元件，從物體的外部向所述物體的內部發送電波； 接收天線元件，在所述物體的外部接收被發送到所述物體的內部的所述電波的散射波；以及 信息處理電路，利用示出由所述接收天線元件接收的所述散射波的測量數據，生成示出所述物體的內部的圖像， 所述信息處理電路， 利用所述測量數據，導出滿足以散射場函數為解的方程式的關系式，在所述散射場函數中所述電波的發送位置以及所述散射波的接收位置被輸入，且所述接收位置中的所述散射波的量被輸出， 利用所述關系式，導出用于生成所述圖像的圖像函數，并且該圖像函數是，反應了按照德拜弛豫來示出所述電波的頻率變化與所述物體的介電常數變化的對應關系的參數的函數，所述參數是通過針對各頻率測量與所述物體為相同種類的試樣的介電常數而被確定的參數， 利用所述圖像函數，生成所述圖像。
如需購買、轉讓、實施、許可或投資類似專利技術，可聯系本專利的申請人或專利權人積分幾何科學公司，其通訊地址為：日本兵庫縣；或者聯系龍圖騰網官方客服，聯系龍圖騰網可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網”。
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2、報告中的分析和結論僅反映本公司于發布本報告當日的職業理解，僅供參考使用，不能作為本公司承擔任何法律責任的依據或者憑證。
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