華芯半導體科技有限公司;華芯半導體研究院(北京)有限公司王光輝獲國家專利權
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龍圖騰網獲悉華芯半導體科技有限公司;華芯半導體研究院(北京)有限公司申請的專利基于視覺識別的VCSEL芯片外觀缺陷檢測系統及方法獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN120107185B 。
龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-09-23發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202510164199.X，技術領域涉及：G06T7/00；該發明授權基于視覺識別的VCSEL芯片外觀缺陷檢測系統及方法是由王光輝;梁高明;戴偉;湯秀娟;田正如設計研發完成，并于2025-02-14向國家知識產權局提交的專利申請。
本基于視覺識別的VCSEL芯片外觀缺陷檢測系統及方法在說明書摘要公布了：本發明公開了基于視覺識別的VCSEL芯片外觀缺陷檢測系統及方法，屬于外觀缺陷檢測技術領域。本發明采集芯片圖像，進行有源區檢測得到有源區參數，將芯片圖像和有源區參數進行關聯，得到芯片外觀檢測數據集；訓練卷積神經網絡模型，將待檢測的芯片圖像輸入到訓練好的卷積神經網絡模型中，得到有源區異常數據集；將有源區異常數據集中的異常類型和異常位置整合進行聚類分析，結合有源區參數，計算每個聚類簇內參數的均值和標準差；將每個聚類簇作為一個節點，依據聚類簇之間的相似性確定邊；計算每個節點的度，識別圖中的子圖結構；將不同時間點的子圖結構進行對比，判斷有源區異常數據集中的異常數據是否具備可逆性。
本發明授權基于視覺識別的VCSEL芯片外觀缺陷檢測系統及方法在權利要求書中公布了：1.基于視覺識別的VCSEL芯片外觀缺陷檢測方法，其特征在于，所述方法包括以下步驟： 采集芯片圖像，進行有源區檢測得到有源區參數，將芯片圖像和有源區參數進行關聯，得到芯片外觀檢測數據集； 基于芯片外觀檢測數據集，訓練卷積神經網絡模型，將待檢測的芯片圖像輸入到訓練好的卷積神經網絡模型中，提取圖像特征向量，進行分類預測，得到有源區異常數據集； 將有源區異常數據集中的異常類型和異常位置整合進行聚類分析，結合有源區參數，計算每個聚類簇內參數的均值和標準差； 將每個聚類簇作為一個節點，依據聚類簇之間的相似性確定邊；計算每個節點的度，識別圖中的子圖結構； 將不同時間點的子圖結構進行對比，結合圖中的節點屬性和連接關系，判斷有源區異常數據集中的異常數據是否具備可逆性。
如需購買、轉讓、實施、許可或投資類似專利技術，可聯系本專利的申請人或專利權人華芯半導體科技有限公司;華芯半導體研究院(北京)有限公司，其通訊地址為：225500 江蘇省泰州市姜堰區羅塘街道現代科技產業園(群東路88號)；或者聯系龍圖騰網官方客服，聯系龍圖騰網可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網”。
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2、報告中的分析和結論僅反映本公司于發布本報告當日的職業理解，僅供參考使用，不能作為本公司承擔任何法律責任的依據或者憑證。
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