西安愛德華測量設備股份有限公司李剛獲國家專利權
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龍圖騰網獲悉西安愛德華測量設備股份有限公司申請的專利長方體工件在三坐標結構光下的快速測量系統獲國家發明授權專利權,本發明授權專利權由國家知識產權局授予,授權公告號為:CN120445091B 。
龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-09-23發布的發明授權授權公告中獲悉:該發明授權的專利申請號/專利號為:202510926245.5,技術領域涉及:G01B11/245;該發明授權長方體工件在三坐標結構光下的快速測量系統是由李剛;柳濤設計研發完成,并于2025-07-07向國家知識產權局提交的專利申請。
本長方體工件在三坐標結構光下的快速測量系統在說明書摘要公布了:本發明公開了長方體工件在三坐標結構光下的快速測量系統,涉及快速測量技術領域,包括:采集模塊,用于通過雙投影儀投射四方向正交結構光,配合高速工業相機及六自由度機械臂采集長方體工件的粗定位點云;編碼模塊,用于生成格雷碼與相移條紋的組合編碼序列,通過相位解算獲取包裹相位,利用雙頻條紋計算外差絕對相位,結合置信度權重圖進行相位展開,并通過徑向基函數網絡補償投影畸變;點云處理模塊,通過語義分割將點云標注為平面、棱邊或拐角區域,對平面區域施加法向量垂直性約束,對棱邊區域施加直線度約束,對拐角區域施加曲率約束,并通過計算綜合誤差判定測量是否合格,確保了測量結果的準確性和可靠性。
本發明授權長方體工件在三坐標結構光下的快速測量系統在權利要求書中公布了:1.長方體工件在三坐標結構光下的快速測量系統,其特征在于:包括: 采集模塊,用于投射四方向正交結構光,采集長方體工件的粗定位點云; 編碼模塊,用于生成格雷碼與相移條紋的組合編碼序列,通過相位解算獲取包裹相位,利用雙頻條紋計算外差絕對相位,結合置信度權重圖進行相位展開,基于幾何參數將絕對相位轉換為三維坐標,并通過徑向基函數網絡補償投影畸變; 所述編碼模塊生成格雷碼與相移條紋的組合編碼序列時,具體包括: 采用n位格雷碼生成個條紋周期,通過德布魯因序列優化格雷碼編碼,使鄰接跳變最小;采用波長為λ的相移條紋,生成m幅相位差均勻分布的相移條紋,覆蓋整個相位周期,組合格雷碼與相移條紋形成編碼序列; 所述編碼模塊通過以下方式進行相位解算: 將確定的格雷碼值轉換為二進制索引,組合所有位的二進制索引,得到每個像素在圖像中的粗條紋索引,將二進制索引轉換為十進制索引,得到該像素的絕對周期數; 使用反正切公式計算包裹相位,范圍為[-π,π]; 通過頻率比為3:1雙頻條紋組合,計算外差絕對相位,當外差絕對相位的絕對值大于π時,標記相位跳變點并觸發局部重解算; 所述編碼模塊生成置信度權重圖,包括: 基于相位調制度和相位導數生成置信度權重圖: ,其中,Confidence為置信度權重,Modulation為相位調制度,為包裹相位的梯度,ω為梯度權重; 點云處理模塊,通過語義分割將點云標注為平面、棱邊或拐角區域,對平面區域施加法向量垂直性約束,對棱邊區域施加直線度約束,對拐角區域施加曲率約束,并通過計算綜合誤差判定測量是否合格。
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