無錫英迪芯微電子科技股份有限公司王寧獲國家專利權
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龍圖騰網獲悉無錫英迪芯微電子科技股份有限公司申請的專利電容耦合斬波儀表放大器電路及紋波校準方法獲國家發明授權專利權,本發明授權專利權由國家知識產權局授予,授權公告號為:CN120474497B 。
龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-09-23發布的發明授權授權公告中獲悉:該發明授權的專利申請號/專利號為:202510984268.1,技術領域涉及:H03F1/26;該發明授權電容耦合斬波儀表放大器電路及紋波校準方法是由王寧;莊志偉;張軍設計研發完成,并于2025-07-17向國家知識產權局提交的專利申請。
本電容耦合斬波儀表放大器電路及紋波校準方法在說明書摘要公布了:本發明實施例公開了一種電容耦合斬波儀表放大器電路及紋波校準方法,該電路包括:第一斬波開關、輸入電容、第一電阻、第二電阻、兩級運放電路、反饋電容、第二斬波開關和紋波校準模塊;兩級運放電路包括用于信號放大的多個第一晶體管和多個第二晶體管;第一晶體管的控制端連接兩級運放電路的第一輸入端,第二晶體管的控制端連接兩級運放電路的第二輸入端;紋波校準模塊連接兩級運放電路的第一輸出端和第二輸出端,紋波校準模塊對兩級運放電路的第一輸出端和第二輸出端的信號進行采樣,并根據采樣信號控制第一晶體管和第二晶體管的接入數量,以降低斬波儀表放大器電路產生的紋波。解決了電容耦合斬波儀表放大器電路由失調電壓產生紋波的問題。
本發明授權電容耦合斬波儀表放大器電路及紋波校準方法在權利要求書中公布了:1.一種電容耦合斬波儀表放大器電路,其特征在于,包括:第一斬波開關、輸入電容、第一電阻、第二電阻、兩級運放電路、反饋電容、第二斬波開關和紋波校準模塊; 所述第一斬波開關接收輸入信號,第一斬波開關通過所述輸入電容連接所述兩級運放電路的第一輸入端和第二輸入端; 所述第一電阻的第一端連接所述兩級運放電路的第一輸入端,所述第一電阻的第二端接入參考電壓信號,所述第二電阻的第一端連接所述兩級運放電路的第二輸入端,所述第二電阻的第二端接入參考電壓信號; 所述第二斬波開關連接所述兩級運放電路的第一輸出端和第二輸出端,所述第二斬波開關通過所述反饋電容連接所述兩級運放電路的第一輸入端和第二輸入端;所述兩級運放電路包括用于信號放大的多個第一晶體管和多個第二晶體管;所述第一晶體管的控制端連接所述兩級運放電路的第一輸入端,所述第二晶體管的控制端連接所述兩級運放電路的第二輸入端;所述紋波校準模塊的輸入端連接所述兩級運放電路的第一輸出端和第二輸出端,所述紋波校準模塊的輸出端連接所述兩級運放電路的輸入端,所述紋波校準模塊用于對所述兩級運放電路的第一輸出端和第二輸出端的信號進行采樣,并根據采樣信號控制所述第一晶體管和所述第二晶體管的接入數量,以降低所述斬波儀表放大器電路產生的紋波; 其中,所述兩級運放電路包括偏置電流源和第一開關電路和第二開關電路,所述第一開關電路包括多個所述第一晶體管和第三晶體管和多個第一開關,所述第一晶體管與所述第一開關一一對應設置; 所述第三晶體管的柵極連接所述兩級運放電路的第一輸入端,所述第三晶體管的第一極連接所述偏置電流源的輸出端,所述第三晶體管的第二極連接所述兩級運放電路的第一內部節點,所述第一晶體管的柵極連接所述兩級運放電路的第一輸入端,所述第一晶體管的第一極連接所述偏置電流源的輸出端,所述第一晶體管的第二極連接對應的所述第一開關的第一端,所述第一開關的第二端連接所述兩級運放電路的第一內部節點; 所述第二開關電路包括多個所述第二晶體管和第四晶體管和多個第二開關,所述第二晶體管與所述第二開關一一對應設置; 所述第四晶體管的柵極連接所述兩級運放電路的第二輸入端,所述第四晶體管的第一極連接所述偏置電流源的輸出端,所述第四晶體管的第二極連接所述兩級運放電路的第二內部節點,所述第二晶體管的柵極連接所述兩級運放電路的第二輸入端,所述第二晶體管的第一極連接所述偏置電流源,所述第二晶體管的第二極連接對應的所述第二開關的第一端,所述第二開關的第二端連接所述兩級運放電路的第二內部節點;其中,所述第三晶體管和所述第四晶體管的數量相等。
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