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龍圖騰網獲悉北京空間機電研究所申請的專利一種光絲激光大氣探測光譜儀獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN115307734B 。

龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-09-19發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202210884993.8，技術領域涉及：G01J3/28；該發明授權一種光絲激光大氣探測光譜儀是由劉曉林;劉勛;孫德偉;黃穎;藺宇輝;張庭成;張麗;劉志敏;李維設計研發完成，并于2022-07-26向國家知識產權局提交的專利申請。

本一種光絲激光大氣探測光譜儀在說明書摘要公布了：本發明公開了一種光絲激光大氣探測光譜儀，包括：望遠系統、狹縫和光譜儀系統；其中，光絲激光與大氣相互作用產生的攜帶物質成分信息的熒光譜信息，通過所述望遠系統收集至所述狹縫處，然后進入光譜分析系統，得到不同大氣光譜的強度信息。本發明可以實現星載實時大氣成分高分辨率光譜探測。

本發明授權一種光絲激光大氣探測光譜儀在權利要求書中公布了：1.一種光絲激光大氣探測光譜儀，其特征在于包括：望遠系統、狹縫4和光譜儀系統；其中， 所述望遠系統將光絲激光與大氣相互作用產生的攜帶物質成分信息的熒光譜信息收集至所述狹縫4處，然后進入光譜儀系統，得到不同大氣光譜的強度信息； 所述望遠系統包括主鏡1、次鏡2和折鏡3；其中， 所述攜帶物質成分信息的熒光譜信息依次經過主鏡1、次鏡2和折鏡3會聚至所述狹縫4處； 所述主鏡1和所述次鏡2均采用二次非球面； 所述主鏡1的頂點曲率半徑大于所述次鏡2的頂點曲率半徑；所述次鏡2與所述折鏡3的間距大于所述折鏡3與所述狹縫4的間距； 所述主鏡1為凹面，所述主鏡1的頂點曲率半徑為1000mm～1300mm，所述主鏡1與所述次鏡2的間距為420mm～530mm，所述主鏡1的通光口徑為400mm～600mm，所述主鏡1開設有中心孔，所述中心孔的直徑為50mm～75mm； 所述次鏡2為凸面，所述次鏡2的頂點曲率半徑為200mm～350mm，所述次鏡2與所述折鏡3的間距為600mm～900mm； 所述光譜儀系統包括準直鏡5、平面光柵6、第一會聚鏡7、第二會聚鏡8和探測器9；其中， 狹縫出射光經準直鏡5準直，進入平面光柵6，光柵衍射光再次經過第一會聚鏡7和第二會聚鏡8達到探測器9，得到不同大氣光譜的強度信息； 準直鏡5、第一會聚鏡7和第二會聚鏡8均采用高次非球面； 所述準直鏡5的頂點曲率半徑大于所述第一會聚鏡7的頂點曲率半徑； 所述第二會聚鏡8的頂點曲率半徑小于所述第一會聚鏡7的頂點曲率半徑； 所述準直鏡5與所述平面光柵6的間距大于所述平面光柵6與所述第一會聚鏡7的間距； 所述第一會聚鏡7與所述第二會聚鏡8的間距大于所述平面光柵6與所述第一會聚鏡7的間距； 所述準直鏡5為凹面，所述準直鏡5的頂點曲率半徑為350～400mm，所述準直鏡5與所述平面光柵6的間距為200～250mm； 所述平面光柵6與所述第一會聚鏡7的間距為80～120mm，所述平面光柵6的通光口徑為22mm； 所述第一會聚鏡7為凸面，所述第一會聚鏡7的頂點曲率半徑為220～270mm，所述第一會聚鏡7與所述第二會聚鏡8的間距為100～150mm； 所述第二會聚鏡8為凹面，所述第二會聚鏡8的頂點曲率半徑為140～220mm，所述第二會聚鏡8與探測器的間距為100～160mm； 所述準直鏡5的通光口徑為22.6×20.72mm；所述第一會聚鏡7的通過口徑為38×23mm；所述第二會聚鏡8的通過口徑為101×50mm； 非球面所采用的非球面方程見下式： 式中，c表示曲率，為頂點曲率半徑的倒數，即1R；k表示二次非球面系數，A表示四次非球面系數，B表示六次非球面系數，C表示八次非球面系數，D表示十次非球面系數；z表示矢高，h表示曲面上點到中心對稱軸的距離。

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