買專利賣專利找龍圖騰，真高效！ 查專利查商標(biāo)用IPTOP,全免費！專利年費監(jiān)控用IP管家,真方便！

龍圖騰網(wǎng)獲悉華南理工大學(xué)申請的專利一種基于特征融合的陳皮年份檢測方法及系統(tǒng)獲國家發(fā)明授權(quán)專利權(quán)，本發(fā)明授權(quán)專利權(quán)由國家知識產(chǎn)權(quán)局授予，授權(quán)公告號為：CN116297301B 。

龍圖騰網(wǎng)通過國家知識產(chǎn)權(quán)局官網(wǎng)在2025-09-19發(fā)布的發(fā)明授權(quán)授權(quán)公告中獲悉：該發(fā)明授權(quán)的專利申請?zhí)?專利號為：202310116739.8，技術(shù)領(lǐng)域涉及：G01N21/3586；該發(fā)明授權(quán)一種基于特征融合的陳皮年份檢測方法及系統(tǒng)是由蒲洪彬;余靜孝;韋慶益;孫大文設(shè)計研發(fā)完成，并于2023-02-15向國家知識產(chǎn)權(quán)局提交的專利申請。

本一種基于特征融合的陳皮年份檢測方法及系統(tǒng)在說明書摘要公布了：本發(fā)明公開了一種基于特征融合的陳皮年份檢測方法及系統(tǒng)，該方法包括下述步驟：獲取陳皮片樣品在不同角度的太赫茲光譜信息，分別進行標(biāo)準(zhǔn)正態(tài)變量變換預(yù)處理，將陳皮片樣品不同角度的標(biāo)準(zhǔn)正態(tài)太赫茲光譜進行第一次卷積特征提取，將第一次卷積特征提取后的特征進行對應(yīng)加和連接得到新的特征，新的特征輸入到第二卷積核進行第二次卷積特征提取獲得最終的特征，利用softmax函數(shù)和多分類交叉熵損失函數(shù)對最終的特征建立分類模型，將待測陳皮片樣品的太赫茲光譜信息輸入訓(xùn)練后的特征建立分類模型，輸出預(yù)測得到的類別，即預(yù)測得到對應(yīng)陳皮片樣品的年份。本發(fā)明在高強度信息提取的同時又減少了光譜中的噪音，實現(xiàn)了陳皮年份的快速無損檢測。

本發(fā)明授權(quán)一種基于特征融合的陳皮年份檢測方法及系統(tǒng)在權(quán)利要求書中公布了：1.一種基于特征融合的陳皮年份檢測方法，其特征在于，包括下述步驟： 利用太赫茲時域光譜技術(shù)對不同儲藏年份的陳皮片樣品進行測量，獲取陳皮片樣品在不同角度的太赫茲光譜信息； 所述獲取陳皮片樣品在不同角度的太赫茲光譜信息，具體獲取陳皮片樣品在四個不同角度的太赫茲光譜信息S0，S90，S180和S270； 陳皮片樣品放入模具的初始位置對應(yīng)0°，S0＝[X0-1,X0-2,X0-3,…,X0-n-2,X0-n-1,X0-n]，X為相應(yīng)頻率的吸收系數(shù)值，0-n為0°時的頻率序號； 陳皮片樣品相對于初始位置繞陳皮片樣品平面的法線順時針旋轉(zhuǎn)90°的位置對應(yīng)90°，S90＝[X90-1,X90-2,X90-3,…,X90-n-2,X90-n-1,X90-n]，90-n為90°時的頻率序號； 陳皮片樣品相對于初始位置繞陳皮片樣品平面的法線順時針旋轉(zhuǎn)180°的位置對應(yīng)180°，S180＝[X180-1,X180-2,X180-3,…,X180-n-2,X180-n-1,X180-n]，180-n為180°時的頻率序號； 陳皮片樣品相對于初始位置繞陳皮片樣品平面的法線順時針旋轉(zhuǎn)270°的位置對應(yīng)270°，S270＝[X270-1,X270-2,X270-3,…,X270-n-2,X270-n-1,X270-n]，270-n為270°時的頻率序號； 對陳皮片樣品不同角度的太赫茲光譜分別進行標(biāo)準(zhǔn)正態(tài)變量變換預(yù)處理，得到陳皮片樣品不同角度的標(biāo)準(zhǔn)正態(tài)太赫茲光譜； 將陳皮片樣品不同角度的標(biāo)準(zhǔn)正態(tài)太赫茲光譜輸入第一卷積核，進行第一次卷積特征提取，將第一次卷積特征提取后的特征進行對應(yīng)加和連接，對應(yīng)不同角度的相同通道、相同位置的輸出值進行相加，得到新的特征，所述第一次卷積特征提取的網(wǎng)絡(luò)結(jié)構(gòu)包括依次連接的第一卷積層、第一Relu層、第一最大池化層，第二卷積層、第二Relu層、第二最大池化層； 所述將陳皮片樣品不同角度的標(biāo)準(zhǔn)正態(tài)太赫茲光譜輸入第一卷積核，進行第一次卷積特征提取，選取四個角度，第一次卷積的輸出的計算公式分別為： S0-CNN1＝ReluW0*S0-SNV S90-CNN1＝ReluW90*S90-SNV S180-CNN1＝ReluW180*S180-SNV S270-CNN1＝ReluW270*S270-SNV 其中，S0-CNN1、S90-CNN1、S180-CNN1和S270-CNN1分別表示0°、90°、180°和270°第一次卷積的輸出的特征，Relu表示激活函數(shù)Relu，W0、W90、W180和W270分別表示0°、90°、180°和270°第一次卷積的卷積核，S0-SNV、S90-SNV、S180-SNV和S270-SNV分別表示0°，90°，180°和270°標(biāo)準(zhǔn)正態(tài)變量變換預(yù)處理之后的特征； 將新的特征輸入到第二卷積核進行第二次卷積特征提取獲得最終的特征，所述第二次卷積特征提取的網(wǎng)絡(luò)結(jié)構(gòu)包括依次連接的第三卷積層、第三Relu層、第三最大池化層、展平層、第一全連接層、第四Relu層、第一Dropout層、第二全連接層、第五Relu層和第二Dropout層； 第二次卷積的計算公式為： SCNN2＝ReluW*Sadd 式中，SCNN2表示第二次卷積特征提取獲取的特征，Relu表示激活函數(shù)Relu，W表示第二次卷積的卷積核，Sadd表示Add連接層獲取得到的新的特征； 利用softmax函數(shù)和多分類交叉熵損失函數(shù)對最終的特征建立分類模型； 將待測陳皮片樣品的太赫茲光譜信息輸入訓(xùn)練后的分類模型，輸出預(yù)測得到的類別，即預(yù)測得到對應(yīng)陳皮片樣品的年份。

如需購買、轉(zhuǎn)讓、實施、許可或投資類似專利技術(shù)，可聯(lián)系本專利的申請人或?qū)＠麢?quán)人華南理工大學(xué)，其通訊地址為：510640 廣東省廣州市天河區(qū)五山路381號；或者聯(lián)系龍圖騰網(wǎng)官方客服，聯(lián)系龍圖騰網(wǎng)可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網(wǎng)”。