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龍圖騰網獲悉中國石油大學(華東)申請的專利一種基于掃頻干涉測量的高精度液位測量裝置、方法獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN120445365B 。

龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-09-16發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202510899170.6，技術領域涉及：G01F23/292；該發明授權一種基于掃頻干涉測量的高精度液位測量裝置、方法是由劉濤;張鐘皓;于森;陸洋;于連棟設計研發完成，并于2025-07-01向國家知識產權局提交的專利申請。

本一種基于掃頻干涉測量的高精度液位測量裝置、方法在說明書摘要公布了：本發明公開一種基于掃頻干涉測量的高精度液位測量裝置、方法，屬于光機電一體化測量技術領域，用于高精度液位測量。光路由掃頻校正光路和測量標定光路兩部分組成；部件包括掃頻光源、光纖分路器、高速采集卡、計算機、光纖環形器、光纖反射鏡、法布里珀羅（FP）標準具、平衡光電探測器（BPD）和液位測量探頭等。FP標準具實現掃頻校正功能，測量標定光路通過一分二光電開關切換通道，通過BPD和高速采集卡進行高速信號采集。本發明測量過程無機械移動，具有免維護的優點；引入FP標準具進行非線性掃頻校準，提高了測量精度，在較優的實驗條件下可達微米級測量精度，該非接觸測量方法可滿足化學化工等領域中高精度液位測量的需要。

本發明授權一種基于掃頻干涉測量的高精度液位測量裝置、方法在權利要求書中公布了：1.一種基于掃頻干涉測量的高精度液位測量裝置，其特征在于，包括光路和器件，光路包括掃頻校正光路、測量標定光路，器件包括掃頻光源、兩個光纖分路器、一分二光電開關、兩個光纖環形器、光纖反射鏡、液位測量探頭、高速采集卡和計算機； 掃頻校正光路依次包括第一光纖環形器、第一光纖反射鏡、FP標準具和第一BPD，掃頻光源經過第一光纖分路器連接到第一光纖環形器的輸入端，第一光纖環形器的輸出端通過連接光纖與第一光纖反射鏡相連，通過第一光纖環形器的返回端口依次連接FP標準具、第一BPD和高速采集卡的第一端口； 測量標定光路依次包括第二光纖環形器、一分二光電開關、標定光路、測量光路和第二BPD；標定光路包括第二光纖分路器、第二光纖反射鏡和定長高精度光纖延遲線；測量光路由帶鍍膜的光纖準直器和液位反射面組成，帶鍍膜的光纖準直器作為液位測量探頭固定在電動光學調整架上，控制光在液體表面上進行掃描； 掃頻光源經過第一光纖分路器連接到第二光纖環形器的輸入端，將一分二光電開關設至測量光路時，第二光纖環形器的輸出端通過長導引光纖連接到液位測量探頭，光從液位測量探頭射出到液面后，回光經過帶鍍膜的光纖準直器原路返回第二光纖環形器后接入第二BPD，最后接入高速采集卡的第二端口； 將一分二光電開關設至標定光路時，標定光路的第二光纖分路器將光路一分為二，一條光路接第二光纖反射鏡后返回，另一條光路經過定長高精度光纖延遲線后經過第三光纖反射鏡返回，兩條光路的回光原路返回第二光纖環形器后接入第二BPD。

如需購買、轉讓、實施、許可或投資類似專利技術，可聯系本專利的申請人或專利權人中國石油大學(華東)，其通訊地址為：266580 山東省青島市黃島區長江西路66號；或者聯系龍圖騰網官方客服，聯系龍圖騰網可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網”。