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龍圖騰網獲悉西北工業大學申請的專利一種校正強度衍射層析術像面強度的方法獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN120434520B 。

龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-09-16發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202510933632.1，技術領域涉及：H04N23/95；該發明授權一種校正強度衍射層析術像面強度的方法是由張繼巍;張宇鶴;張佳偉;趙建林設計研發完成，并于2025-07-08向國家知識產權局提交的專利申請。

本一種校正強度衍射層析術像面強度的方法在說明書摘要公布了：本發明涉及計算光學成像技術領域，具體公開了一種校正強度衍射層析術像面強度的方法。在基于LED陣列照明的條件下，利用圖像邊緣明暗過渡特征計算邊緣方差值，并結合閾值條件篩選并去除受漸暈效應影響的圖像。將記錄圖像為明場圖像的燈珠位置與圖像受漸暈效應影響的燈珠位置做“與”運算，得到需要進行曝光時間校正的燈珠位置。按照像面強度與相機曝光時間的線性關系，通過記錄各燈珠照明下兩次不同曝光時間的圖像，得到不同燈珠位置處的強度線性系數項和常數項，進而根據中心燈珠照明時的像面強度及曝光時間，計算出其他位置燈珠的曝光時間，最終實現對不同燈珠照明下的像面強度校正，有效提高強度衍射層析術的重建質量。

本發明授權一種校正強度衍射層析術像面強度的方法在權利要求書中公布了：1.一種校正強度衍射層析術像面強度的方法，其特征在于包括如下步驟： 步驟1：在清晰成像條件下，設置LED陣列的曝光時間為T1，設定預設條件，通過強度衍射層析成像系統得到不同位置燈珠照明的強度圖像； 步驟2：選擇方形掩模版，取出每張圖像的邊緣值，展開為一維向量后計算邊緣強度方差值s2，結合閾值條件得到圖像受漸暈效應影響的燈珠位置； 步驟3：將曝光時間設為T2，滿足T2≠T1，重復步驟1，得到不同位置燈珠照明下的強度圖像，結合曝光時間T1記錄的圖像，計算不同燈珠位置（m,n）處圖像強度的線性修正系數km ,n和常數項bm,n，具體過程為： ； 其中，LED陣列有x×y個燈珠，滿足1≤m≤x和1≤n≤y，I1 m,n和I2 m,n分別是曝光時間為T1和T2下、燈珠位置為（m,n）處的圖像平均強度，m和n分別表示LED陣列上燈珠位置的橫向和縱向坐標； 步驟4：將記錄明場圖像的燈珠位置與圖像受漸暈效應影響的燈珠位置進行運算，得到需要進行曝光時間校正的燈珠位置；所述明場圖像是指當不同位置的燈珠被點亮時，會發出不同照明角度的入射光，當入射光的數值孔徑NAillum小于等于顯微物鏡的數值孔徑NAobj時，顯微物鏡能夠全部收集這些入射光并形成明場圖像； 步驟5：點亮中心位置的LED燈珠并選擇曝光時間T3，記錄像面強度I0，利用需要進行曝光時間校正的位置燈珠（m,n）的曝光時間Tm,n與像面強度I0的線性關系通過曝光時間公式確定，不需要進行曝光時間校正的燈珠曝光時間設置為T3，計算出其他位置燈珠的曝光時間，實現對不同燈珠照明下的像面強度校正；所述曝光時間公式為：。

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