天津大學張瀚文獲國家專利權
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龍圖騰網獲悉天津大學申請的專利基于相位調控的傅里葉變換光譜設備及光譜檢測方法獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN120489342B 。
龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-09-16發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202510990999.7，技術領域涉及：G01J3/45；該發明授權基于相位調控的傅里葉變換光譜設備及光譜檢測方法是由張瀚文;陳文亮;于粵雯;李晨曦;劉蓉;翟嘉設計研發完成，并于2025-07-18向國家知識產權局提交的專利申請。
本基于相位調控的傅里葉變換光譜設備及光譜檢測方法在說明書摘要公布了：本發明提供了一種基于相位調控的傅里葉變換光譜設備及光譜檢測方法，涉及光譜測量技術領域。該傅里葉變換光譜設備包括：光源模塊，用于提供檢測光；分光鏡，用于將檢測光分束為第一掃描光和第一參考光；掃描模塊，用于在第一掃描光中引入與光頻率線性相關的相位延遲，得到第二掃描光，并經分光鏡，向樣品提供第二掃描光；參考模塊，用于反射第一參考光，得到第二參考光，并經由分光鏡，向樣品提供第二參考光；光電檢測器，用于接收與樣品作用后的第二掃描光、和與樣品作用后的第二參考光，得到第一干涉圖譜；以及處理模塊，用于處理第一干涉圖譜，得到樣品的光譜檢測結果。
本發明授權基于相位調控的傅里葉變換光譜設備及光譜檢測方法在權利要求書中公布了：1.一種基于相位調控的傅里葉變換光譜設備，其特征在于，包括： 光源模塊，用于提供檢測光； 分光鏡，用于將所述檢測光分束為第一掃描光和第一參考光； 掃描模塊，用于在所述第一掃描光中引入與光頻率線性相關的相位延遲，得到第二掃描光，并經所述分光鏡，向樣品提供所述第二掃描光，其中，所述掃描模塊包括以預設焦距為基準的4F光路結構，所述4F光路結構包括光柵、第一平面反射鏡、球面反射鏡和掃描振鏡，所述球面反射鏡的焦距為所述預設焦距，所述光柵位于所述球面反射鏡的前焦面，所述掃描振鏡位于所述球面反射鏡的后焦面； 參考模塊，用于反射所述第一參考光，得到第二參考光，并經由所述分光鏡，向所述樣品提供所述第二參考光； 光電檢測器，用于接收與所述樣品作用后的第二掃描光、和與所述樣品作用后的第二參考光，得到第一干涉圖譜；以及 處理模塊，用于處理所述第一干涉圖譜，得到所述樣品的光譜檢測結果。
如需購買、轉讓、實施、許可或投資類似專利技術，可聯系本專利的申請人或專利權人天津大學，其通訊地址為：300072 天津市南開區衛津路92號；或者聯系龍圖騰網官方客服，聯系龍圖騰網可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網”。
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1、本報告根據公開、合法渠道獲得相關數據和信息，力求客觀、公正，但并不保證數據的最終完整性和準確性。
2、報告中的分析和結論僅反映本公司于發布本報告當日的職業理解，僅供參考使用，不能作為本公司承擔任何法律責任的依據或者憑證。
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