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龍圖騰網獲悉中汽研軟件測評(天津)有限公司;中汽研科技有限公司;中汽芯(深圳)科技有限公司申請的專利一種多溫度條件下車載芯片性能測試方法、系統及介質獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN120507641B 。

龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-09-16發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202511021149.2，技術領域涉及：G01R31/28；該發明授權一種多溫度條件下車載芯片性能測試方法、系統及介質是由夏顯召;吳含冰;潘俊家;李予佳;翟瑞卿;趙瑞;李明陽;董長青;王旭設計研發完成，并于2025-07-24向國家知識產權局提交的專利申請。

本一種多溫度條件下車載芯片性能測試方法、系統及介質在說明書摘要公布了：本申請提供了一種多溫度條件下車載芯片性能測試方法、系統及介質，通過設置高低溫沖擊箱、控制設備和時鐘源，待測試車載芯片設置于高低溫沖擊箱內，時鐘源和控制設備置于高低溫沖擊箱外；控制高低溫沖擊箱的內部溫度；向待測試車載芯片發送激勵信號并記錄發送時間；接收待測試車載芯片發出的完成信號并記錄完成時間；計算待測試車載芯片執行關鍵操作的執行時間；基于多個內部溫度下執行關鍵操作的執行時間，確定待測試車載芯片的性能測試結果；即利用高低溫沖擊箱實現待測試車載芯片的溫度控制，并且在高低溫沖擊箱外部設置控制設備和時鐘源，以避免高低溫沖擊箱內溫度變化對控制設備和時鐘源的影響，從而提高測試精度。

本發明授權一種多溫度條件下車載芯片性能測試方法、系統及介質在權利要求書中公布了：1.一種多溫度條件下車載芯片性能測試方法，其特征在于，應用于多溫度條件下車載芯片性能測試系統，所述多溫度條件下車載芯片性能測試系統包括高低溫沖擊箱、控制設備和時鐘源，待測試車載芯片設置于所述高低溫沖擊箱內，所述控制設備連接所述高低溫沖擊箱和所述待測試車載芯片，所述時鐘源連接所述控制設備，所述時鐘源和所述控制設備置于所述高低溫沖擊箱外；所述多溫度條件下車載芯片性能測試方法包括： 根據測試需求，控制所述高低溫沖擊箱的內部溫度； 向所述待測試車載芯片發送激勵信號，以觸發所述待測試車載芯片執行對應的關鍵操作，并采用所述時鐘源記錄發送所述激勵信號的發送時間；其中，所述關鍵操作表示所述待測試車載芯片的特定功能操作； 接收所述待測試車載芯片完成所述關鍵操作后發出的完成信號，并采用所述時鐘源記錄發出所述完成信號的完成時間； 基于所述發送時間和所述完成時間，計算所述待測試車載芯片在所述內部溫度下執行所述關鍵操作的執行時間； 基于所述待測試車載芯片在多個所述內部溫度下執行所述關鍵操作的執行時間，確定所述待測試車載芯片的性能測試結果； 所述基于所述待測試車載芯片在多個所述內部溫度下執行所述關鍵操作的執行時間，確定所述待測試車載芯片的性能測試結果包括： 基于所述待測試車載芯片在多個所述內部溫度下執行所述關鍵操作的執行時間，計算所述待測試車載芯片的多個性能指標； 基于所述多個性能指標，確定所述待測試車載芯片的性能測試結果； 所述基于所述待測試車載芯片在多個所述內部溫度下執行所述關鍵操作的執行時間，計算所述待測試車載芯片的多個性能指標包括： 基于所述待測試車載芯片在多個所述內部溫度下執行所述關鍵操作的執行時間，計算所述待測試車載芯片的執行時間趨勢指標、穩定性指標、敏感度指標；其中，所述執行時間趨勢指標表示所述待測試車載芯片執行關鍵操作的整體時間，所述穩定性指標表示所述待測試車載芯片在不同溫度下執行關鍵操作的時間差異，所述敏感度指標表示所述待測試車載芯片在各個溫度下執行關鍵操作的執行時間變化程度。

如需購買、轉讓、實施、許可或投資類似專利技術，可聯系本專利的申請人或專利權人中汽研軟件測評(天津)有限公司;中汽研科技有限公司;中汽芯(深圳)科技有限公司，其通訊地址為：300300 天津市東麗區先鋒東路68號17號樓；或者聯系龍圖騰網官方客服，聯系龍圖騰網可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網”。