華為技術有限公司余愷獲國家專利權
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龍圖騰網獲悉華為技術有限公司申請的專利一種測距方法及電子設備獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN114518581B 。
龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-09-12發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202011301737.9，技術領域涉及：G01S17/48；該發明授權一種測距方法及電子設備是由余愷;張朝龍;俞鋒;曾佳;蔣珂瑋設計研發完成，并于2020-11-19向國家知識產權局提交的專利申請。
本一種測距方法及電子設備在說明書摘要公布了：本申請公開了一種測距方法及電子設備。依據環境光的光強對光子的保存進行控制，在環境光光強較強時通過第一預設操作提升遠距離光子保存的概率，打破優先保存近距離光子的固有實現方式，避免了強環境光條件下遠距離光子無法成功保存的問題。本申請在測距時，抵抗強光環境干擾，提升對遠距離目標返回的光子的保存概率，進而生成時間維度上更加均衡化的dTOF直方圖，提升對遠距離目標的測距性能。并且測距方法在具體實現時，曝光時間短、曝光次數少，不會浪費激光能量，且幀率高，測距時間短。此外，不需要增加額外的硬件成本。
本發明授權一種測距方法及電子設備在權利要求書中公布了：1.一種測距方法，其特征在于，包括： 向目標物體周期性地發射激光脈沖； 獲取光強信息，所述光強信息用于表示環境光的光強； 當所述光強信息滿足第一條件時，通過執行第一預設操作提升遠距離的光子保存的概率；其中，所述第一條件包括所述環境光的光強超過第一光強閾值，所述第一光強閾值為分配給單個光電探測單元的內存空間中保存的光子數的限值； 根據保存的光子生成直接飛行時間dTOF直方圖； 根據所述dTOF直方圖進行尋峰操作，得到所述目標物體的距離。
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1、本報告根據公開、合法渠道獲得相關數據和信息，力求客觀、公正，但并不保證數據的最終完整性和準確性。
2、報告中的分析和結論僅反映本公司于發布本報告當日的職業理解，僅供參考使用，不能作為本公司承擔任何法律責任的依據或者憑證。
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