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龍圖騰網(wǎng)獲悉北京奕斯偉計(jì)算技術(shù)有限公司申請(qǐng)的專利芯片的仿真測(cè)試方法、裝置、設(shè)備及系統(tǒng)獲國(guó)家發(fā)明授權(quán)專利權(quán)，本發(fā)明授權(quán)專利權(quán)由國(guó)家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局授予，授權(quán)公告號(hào)為：CN114186396B 。

龍圖騰網(wǎng)通過(guò)國(guó)家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局官網(wǎng)在2025-09-12發(fā)布的發(fā)明授權(quán)授權(quán)公告中獲悉：該發(fā)明授權(quán)的專利申請(qǐng)?zhí)?專利號(hào)為：202111396769.6，技術(shù)領(lǐng)域涉及：G06F30/20；該發(fā)明授權(quán)芯片的仿真測(cè)試方法、裝置、設(shè)備及系統(tǒng)是由郭向飛設(shè)計(jì)研發(fā)完成，并于2021-11-23向國(guó)家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局提交的專利申請(qǐng)。

本芯片的仿真測(cè)試方法、裝置、設(shè)備及系統(tǒng)在說(shuō)明書摘要公布了：本申請(qǐng)實(shí)施例提供了一種芯片的仿真測(cè)試方法、裝置、設(shè)備及系統(tǒng)。該芯片的仿真測(cè)試方法，包括：采用硬件仿真系統(tǒng)模擬芯片運(yùn)行設(shè)計(jì)程序的第一部分，并進(jìn)行至少一次采樣，得到至少一個(gè)采樣數(shù)據(jù)；將至少一個(gè)采樣數(shù)據(jù)加載到軟件仿真系統(tǒng)；軟件仿真系統(tǒng)模擬芯片基于至少一個(gè)采樣數(shù)據(jù)繼續(xù)運(yùn)行設(shè)計(jì)程序的部分剩余程序或全部剩余程序，以對(duì)芯片運(yùn)行設(shè)計(jì)程序進(jìn)行仿真測(cè)試。本申請(qǐng)實(shí)施例將部分程序在硬件仿真系統(tǒng)進(jìn)行執(zhí)行，軟件仿真系統(tǒng)在采集數(shù)據(jù)的基礎(chǔ)上繼續(xù)執(zhí)行設(shè)計(jì)程序，從而不需要真正執(zhí)行設(shè)計(jì)程序的全部流程，能夠?qū)⒂布抡嫦到y(tǒng)和軟件仿真系統(tǒng)相結(jié)合實(shí)現(xiàn)高效的分析和調(diào)試，從而給芯片設(shè)計(jì)提供很好的指導(dǎo)。

本發(fā)明授權(quán)芯片的仿真測(cè)試方法、裝置、設(shè)備及系統(tǒng)在權(quán)利要求書中公布了：1.一種芯片的仿真測(cè)試方法，其特征在于，包括： 采用硬件仿真系統(tǒng)模擬所述芯片運(yùn)行設(shè)計(jì)程序的第一部分，并進(jìn)行至少一次采樣，得到至少一個(gè)采樣數(shù)據(jù)；所述采用硬件仿真系統(tǒng)模擬所述芯片運(yùn)行設(shè)計(jì)程序的第一部分包括：若所述硬件仿真系統(tǒng)模擬所述芯片運(yùn)行設(shè)計(jì)程序出現(xiàn)故障，則所述硬件仿真系統(tǒng)已經(jīng)運(yùn)行所述設(shè)計(jì)程序的部分作為第一部分，所述采樣數(shù)據(jù)為表示所述硬件仿真系統(tǒng)運(yùn)行所述設(shè)計(jì)程序的運(yùn)行狀態(tài)的信息； 將所述至少一個(gè)采樣數(shù)據(jù)加載到軟件仿真系統(tǒng)； 所述軟件仿真系統(tǒng)基于各所述采樣數(shù)據(jù)的執(zhí)行信息，確定與各所述采樣數(shù)據(jù)對(duì)應(yīng)的采樣位置；所述采樣數(shù)據(jù)包括執(zhí)行信息和中間結(jié)果信息，所述采樣位置為設(shè)計(jì)程序中對(duì)應(yīng)的采樣時(shí)刻的位置； 根據(jù)各所述采樣數(shù)據(jù)對(duì)應(yīng)的采樣位置，確定各所述采樣數(shù)據(jù)的采樣順序；將最后一個(gè)采集的采集數(shù)據(jù)前面的第N個(gè)采樣數(shù)據(jù)對(duì)應(yīng)的采樣位置，作為運(yùn)行設(shè)計(jì)程序的起始位置，N為大于或等于1的正整數(shù)； 根據(jù)確定的采樣位置對(duì)應(yīng)的采樣數(shù)據(jù)的中間結(jié)果信息，從所述運(yùn)行設(shè)計(jì)程序的起始位置繼續(xù)運(yùn)行設(shè)計(jì)程序的部分剩余程序或全部剩余程序，以對(duì)所述芯片運(yùn)行所述設(shè)計(jì)程序進(jìn)行仿真測(cè)試。

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