買專利賣專利找龍圖騰，真高效！ 查專利查商標用IPTOP,全免費！專利年費監控用IP管家,真方便！

龍圖騰網獲悉杭州電子科技大學申請的專利一種基于雙探針的主軸回轉誤差測量方法獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN115218791B 。

龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-09-12發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202210842290.9，技術領域涉及：G01B11/02；該發明授權一種基于雙探針的主軸回轉誤差測量方法是由王文;方威;呂天碩;岳樹清;陳占鋒;時光;楊賀;王傳勇;盧科青設計研發完成，并于2022-07-18向國家知識產權局提交的專利申請。

本一種基于雙探針的主軸回轉誤差測量方法在說明書摘要公布了：本發明公開了一種基于雙探針的主軸回轉誤差測量方法。該方法如下：一、在被測主軸上同軸安裝柱狀樣本。沿柱狀樣本徑向布置探針裝置；兩個探針裝置同時在輕敲模式下進行數據采集后，再同時在接觸模式下進行數據采集。在輕敲模式的數據采集中，被測主軸轉動多周，獲取多組位移數據。在接觸模式下，被測主軸轉動一周，在被測主軸上留下刻劃痕跡。二、根據位移數據計算主軸的傾角誤差；三、根據刻劃痕跡獲得被測主軸的軸向誤差。本發明通過探針刻劃功能，得到徑向位移數據以及刻劃痕跡，配合相應的計算，能夠同時測得被測主軸傾角誤差、徑向誤差和軸向誤差，由此能夠精準評估被測主軸的回轉精度。

本發明授權一種基于雙探針的主軸回轉誤差測量方法在權利要求書中公布了：1.一種基于雙探針的主軸回轉誤差測量方法，其特征在于：包括以下步驟： 步驟一、在被測主軸上同軸安裝柱狀樣品；沿柱狀樣品上的兩個數據采集位置徑向布置兩個探針裝置；該探針裝置有兩種工作模式，分別為輕敲模式和接觸模式；輕敲模式下，探針裝置中的探針抵住柱狀樣品并進行振動，通過接觸信號讀取位移信息；接觸模式下，探針裝置中的探針抵住柱狀樣品，并施加壓力對柱狀樣品進行刻劃，并讀取位移數據；兩個探針裝置同時在輕敲模式下進行數據采集后，再同時在接觸模式下進行數據采集；在輕敲模式的數據采集中，被測主軸轉動多周，獲取多組位移數據；在接觸模式下，被測主軸轉動一周； 輕敲模式下的探針裝置獲得的數據為徑向位移數據，為被測主軸的相位；接觸模式下的探針裝置的針尖在柱狀樣品上會留下一條刻劃痕跡；獲得兩組徑向位移數據，分別記為、，以及兩條刻劃痕跡； 步驟二、計算主軸的傾角誤差如下： ； 其中，、分別為柱狀樣品在兩個數據采集位置的安裝偏心及圓度誤差；為兩個數據采集位置的軸向距離； 步驟三、對樣品刻劃表面進行掃描后讀取刻劃痕跡，得到刻劃圖像；以刻劃圖像上的軌跡沿主軸軸向方向的位移作為被測主軸的軸向誤差。

如需購買、轉讓、實施、許可或投資類似專利技術，可聯系本專利的申請人或專利權人杭州電子科技大學，其通訊地址為：310018 浙江省杭州市下沙高教園區2號大街；或者聯系龍圖騰網官方客服，聯系龍圖騰網可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網”。