湘潭大學(xué)徐志遠(yuǎn)獲國家專利權(quán)
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龍圖騰網(wǎng)獲悉湘潭大學(xué)申請的專利一種基于電容的金屬粉末電學(xué)特性檢測方法獲國家發(fā)明授權(quán)專利權(quán),本發(fā)明授權(quán)專利權(quán)由國家知識產(chǎn)權(quán)局授予,授權(quán)公告號為:CN116148537B 。
龍圖騰網(wǎng)通過國家知識產(chǎn)權(quán)局官網(wǎng)在2025-09-12發(fā)布的發(fā)明授權(quán)授權(quán)公告中獲悉:該發(fā)明授權(quán)的專利申請?zhí)?專利號為:202310326842.5,技術(shù)領(lǐng)域涉及:G01R27/02;該發(fā)明授權(quán)一種基于電容的金屬粉末電學(xué)特性檢測方法是由徐志遠(yuǎn);龔凡;唐宇科;蔣振韜設(shè)計(jì)研發(fā)完成,并于2023-03-30向國家知識產(chǎn)權(quán)局提交的專利申請。
本一種基于電容的金屬粉末電學(xué)特性檢測方法在說明書摘要公布了:本發(fā)明公開了一種基于電容的金屬粉末電學(xué)特性檢測方法。它主要解決增材制造中回收和循環(huán)使用的金屬粉末的性能變化難以準(zhǔn)確且在線進(jìn)行檢測的技術(shù)問題;其技術(shù)方案要點(diǎn)是:利用不同使用次數(shù)下金屬粉末電學(xué)特性發(fā)生變化的特點(diǎn),基于電容效應(yīng)對金屬粉末的介電常數(shù)和電導(dǎo)率進(jìn)行檢測。在該方法中,將一個(gè)電容器放置在金屬粉末循環(huán)路徑中,電容器的極板與電容測量電路相連;當(dāng)金屬粉末通過電容器時(shí),在電容測量電路中產(chǎn)生電壓信號,根據(jù)該信號可計(jì)算得到金屬粉末充當(dāng)電容器的電介質(zhì)時(shí)所產(chǎn)生的電容;再根據(jù)電容與介質(zhì)介電譜的關(guān)系,得到金屬粉末的介電譜ε=ε′?jε″,ε′即為介電常數(shù);最后,由電導(dǎo)率關(guān)系式σ=ωε0ε″,可計(jì)算得出金屬粉末的電導(dǎo)率σ。
本發(fā)明授權(quán)一種基于電容的金屬粉末電學(xué)特性檢測方法在權(quán)利要求書中公布了:1.一種基于電容的金屬粉末電學(xué)特性檢測方法,其特征在于,包括以下具體步驟: 步驟1:將一個(gè)電容器放置在金屬粉末循環(huán)路徑中,電容器的兩個(gè)極板與交流型電容測量電路相連; 步驟2:上位機(jī)控制信號發(fā)生器產(chǎn)生徑向頻率為ω的激勵信號Uit=sinωt,接入到電容測量電路的輸入端;當(dāng)金屬粉末通過電容器時(shí),在電容測量電路中產(chǎn)生電壓信號Uot; 步驟3:在上位機(jī)中進(jìn)行數(shù)據(jù)計(jì)算;根據(jù)C測=kUot,得到與金屬粉末電學(xué)特性相關(guān)的測量電容C測,其中k為電容測量電路的增益;根據(jù)得到電容器的邊緣電容C邊,其中:D為電容器極板直徑,單位為米;t為電容器極板厚度,單位為米;d為電容器極板之間的距離,單位為米;ε0為真空介電常數(shù),等于8.854187817×10- 12Fm;根據(jù)得到電容器的實(shí)際電容C實(shí),其中:θ為電容器阻抗相位角,單位為rad;j為虛數(shù)單位;最后,根據(jù)得到金屬粉末的介電譜ε=ε'-jε”; 步驟4:在上位機(jī)中對介電譜ε進(jìn)行分析,得到實(shí)部ε′和虛部-ε″;ε′即為金屬粉末的介電常數(shù),單位為Fm;再根據(jù)σ=ωε0ε″,計(jì)算得出金屬粉末的電導(dǎo)率σ,單位為Sm; 步驟5:上位機(jī)根據(jù)計(jì)算結(jié)果,將介電常數(shù)和電導(dǎo)率的數(shù)值予以顯示,即為金屬粉末電學(xué)特性的檢測結(jié)果。
如需購買、轉(zhuǎn)讓、實(shí)施、許可或投資類似專利技術(shù),可聯(lián)系本專利的申請人或?qū)@麢?quán)人湘潭大學(xué),其通訊地址為:411105 湖南省湘潭市雨湖區(qū)湘潭大學(xué);或者聯(lián)系龍圖騰網(wǎng)官方客服,聯(lián)系龍圖騰網(wǎng)可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網(wǎng)”。
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