買專利賣專利找龍圖騰，真高效！ 查專利查商標用IPTOP,全免費！專利年費監控用IP管家,真方便！

龍圖騰網獲悉北京東方計量測試研究所;哈爾濱工業大學申請的專利基于輻射光譜及紅外成像的等離子體探針陣列校準方法獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN118829059B 。

龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-09-12發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202410877286.5，技術領域涉及：H05H1/00；該發明授權基于輻射光譜及紅外成像的等離子體探針陣列校準方法是由賈軍偉;朱悉銘;朱莫凡;郎昊;武宇婧;常猛;康永琦;張文杰設計研發完成，并于2024-07-02向國家知識產權局提交的專利申請。

本基于輻射光譜及紅外成像的等離子體探針陣列校準方法在說明書摘要公布了：本發明為等離子體探針校準領域，提供基于輻射光譜及紅外成像的等離子體探針陣列校準方法。測量探針陣列的表面溫度，使用探針陣列測量穩定運行的霍爾推進器的羽流參數，得到此時探針陣列收集到的伏安特性曲線。再使用紅外成像儀測量探針陣列的表面溫度，得到探針受轟擊加熱的溫度差。結合探針表面的二次電子發射系數，便計算出二次電流值。結合探針本身測量得到的離子電流值，對電子電流值進行修正，得到真實的伏安特性曲線，計算出準確的電子溫度密度。使用光譜儀通過光譜測量此時的電子溫度電子密度，與修改后的探針測量的電子溫度電子密度進行對比，實現對等離子體探針陣列進行校準。用以解決探針測量結果缺乏校準，準確度難以評定的問題。

本發明授權基于輻射光譜及紅外成像的等離子體探針陣列校準方法在權利要求書中公布了：1.一種基于輻射光譜及紅外成像的等離子體探針陣列校準方法，其特征在于，所述等離子體探針陣列校準方法的等離子體探針陣列（7）包括球型探針（1）、平面探針（4）、圓柱探針Ⅰ（2）和圓柱探針Ⅱ（5）；所述等離子體探針陣列（7）設置在十字形支架（3）上，所述球型探針（1）、平面探針（4）設置在十字形支架（3）的相對兩端，所述圓柱探針Ⅰ（2）和圓柱探針Ⅱ（5）設置在十字形支架（3）的相對兩端，所述球型探針（1）、平面探針（4）、圓柱探針Ⅰ（2）和圓柱探針Ⅱ（5）間隔設置； 所述等離子體探針陣列校準方法包括以下步驟： 步驟1：將所述等離子體探針陣（7）列放置在真空罐（55）中，并將真空罐（55）抽真空； 步驟2：基于步驟1抽真空的真空罐（55）測量等離子體探針陣列（7）的探針表面溫度； 步驟3：使用等離子體探針陣列（7）測量穩定運行的霍爾推進器（33）的羽流參數，等離子體探針陣列（7）的探針收集到此時的伏安特性曲線； 步驟4：測量步驟3等離子體探針陣列（7）收集霍爾推進器羽流參數之后的表面溫度； 步驟5：將步驟2等離子體探針陣列（7）的表面溫度和步驟4的等離子體探針陣列（7）的探針表面溫度做差，得到等離子體探針陣列（7）的探針受霍爾推進器羽流轟擊加熱之后的溫度差； 步驟6：將步驟5的受霍爾推進器羽流轟擊加熱之后的溫度差，結合等離子體探針陣列（7）的探針表面的二次電子發射系數計算出二次電流值； 步驟7：將步驟6的二次電流值，結合探針本身測量得到的離子電流值，便能對電子電流值進行修正，得到真實的伏安特性曲線，從而計算出準確的電子溫度密度； 步驟8：使用光譜儀（4）測量電子溫度電子密度，與步驟7修改后的探針測量的電子溫度電子密度進行對比，從而實現對等離子體探針陣列進行校準。

如需購買、轉讓、實施、許可或投資類似專利技術，可聯系本專利的申請人或專利權人北京東方計量測試研究所;哈爾濱工業大學，其通訊地址為：100086 北京市海淀區知春路82號1001室；或者聯系龍圖騰網官方客服，聯系龍圖騰網可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網”。