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龍圖騰網獲悉北京理工大學;北京空間機電研究所申請的專利剪切散斑干涉近表面缺陷的檢測誤差剔除方法及裝置獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN119125139B 。

龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-09-12發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202411009109.1，技術領域涉及：G01N21/88；該發明授權剪切散斑干涉近表面缺陷的檢測誤差剔除方法及裝置是由郝群;李冠霖;胡搖;阮寧娟;蘇云;鄭國憲;楊立欣設計研發完成，并于2024-07-26向國家知識產權局提交的專利申請。

本剪切散斑干涉近表面缺陷的檢測誤差剔除方法及裝置在說明書摘要公布了：本發明公開剪切散斑干涉近表面缺陷的檢測誤差剔除方法及裝置，依次通過設置剪切量大小、旋轉調整剪切方向、旋轉調整狹縫光闌、動態加載和采集光強圖、計算和篩選剪切相位圖、定位異常條紋、匯總各方向檢測結果、計算缺陷分布的步驟，使用不同剪切方向下的剪切相位圖作為缺陷檢測對象，使剪切量引入的缺陷檢測誤差沿著不同方向分布，通過對各剪切方向測量結果取交集的方式剔除剪切量引入的缺陷檢測誤差，實現材料近表面缺陷的高精度檢測，能無需剪切量標定和補償，直接準確的剔除剪切量引入的缺陷檢測誤差，獲取被測件缺陷分布。整個過程方便快捷，并且檢測門檻低。

本發明授權剪切散斑干涉近表面缺陷的檢測誤差剔除方法及裝置在權利要求書中公布了：1.剪切散斑干涉近表面缺陷的檢測誤差剔除方法，其特征在于：其包括以下步驟： 1設置剪切量大?。涸诩羟猩吒缮嫦到y中，通過傾斜剪切鏡對剪切散斑干涉系統施加初始的剪切量，同時引入剪切量和空間載波； 2旋轉調整剪切方向：通過沿光軸旋轉剪切鏡的方式實現剪切方向沿著光軸的旋轉，調整剪切方向； 3旋轉調整狹縫光闌角度：沿光軸旋轉狹縫光闌，使狹縫的濾波方向和剪切鏡引入的空間載波方向一致； 4對被測件動態加載，并持續采集當前剪切方向的光強圖，對被測件施加緩變的外力，并使用相機持續記錄光強信息； 5計算和篩選當前剪切方向的剪切相位圖：根據當前剪切方向下持續采集到的光強圖，通過空間載波技術計算每個外力大小下的剪切相位圖，在不同外力大小作用下的全部剪切相位圖中，根據指標選擇一張合適的剪切相位圖作為當前剪切方向的結果，使該剪切相位圖中異常條紋足夠凸顯，并且其范圍隨加載量的增大而趨于穩定； 6從剪切相位圖中定位異常條紋：定位步驟5篩選出的剪切相位圖中異常條紋的位置，獲取異常條紋在像素坐標系下的二維分布； 7求解各個剪切方向下的異常條紋位置：選擇足夠多的剪切方向，重復步驟2-6，獲得各個剪切方向下的異常條紋二維分布； 8匯總求解缺陷像素坐標系分布：將各剪切方向下的異常條紋二維分布逐像素取交集，利用不同剪切方向下剪切量引入的誤差方向不同，通過取交集的方式剔除，得到缺陷在像素坐標系下的二維分布； 9計算缺陷在世界坐標系分布。

如需購買、轉讓、實施、許可或投資類似專利技術，可聯系本專利的申請人或專利權人北京理工大學;北京空間機電研究所，其通訊地址為：100081 北京市海淀區中關村南大街5號；或者聯系龍圖騰網官方客服，聯系龍圖騰網可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網”。