買專利賣專利找龍圖騰，真高效！ 查專利查商標用IPTOP,全免費！專利年費監(jiān)控用IP管家,真方便！

龍圖騰網獲悉北京大學申請的專利一種加速復雜約束條件集成電路良率分析的排序方法獲國家發(fā)明授權專利權，本發(fā)明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN120317199B 。

龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-09-12發(fā)布的發(fā)明授權授權公告中獲悉：該發(fā)明授權的專利申請?zhí)?專利號為：202510432879.5，技術領域涉及：G06F30/3308；該發(fā)明授權一種加速復雜約束條件集成電路良率分析的排序方法是由程平;劉謀斌;沈文豪;周游設計研發(fā)完成，并于2025-04-08向國家知識產權局提交的專利申請。

本一種加速復雜約束條件集成電路良率分析的排序方法在說明書摘要公布了：本發(fā)明屬于集成電路良率分析領域，具體涉及一種加速復雜約束條件集成電路良率分析的排序方法。一種加速復雜約束條件集成電路良率分析的排序方法，包括以下步驟：對判定參數的評定指標分別以分判定函數的表示，則總判定函數為各分判定函數的邏輯組合；對數據進行歸一化便于計算；根據總判定函數的所有分判定函數的線性不等式約束條件之間的邏輯關系劃分樣本空間的失效區(qū)域；計算各樣本數據到失效邊界的有效有向概率距離d，按有效有向距離d的代數值排列后仿真。該良率分析的排序方法有效地解決了HSMC方法無法適用于復雜多約束條件良率判定的局限性問題。

本發(fā)明授權一種加速復雜約束條件集成電路良率分析的排序方法在權利要求書中公布了：1.一種加速復雜約束條件集成電路良率分析的排序方法，其特征在于：包括以下步驟： S1：總判定函數的等效變形：對判定參數的評定指標分別以分判定函數 、 ...... 的表示，其中每一個分判定函數的表達式為該參數判定指標的不等式，則總判定函數為各分判定函數的邏輯組合； 當某一判定參數的判定指標為多個參數的非線性關系式，則其分判定函數為非線性不等式約束，定義一等效變量S并使其等于該分判定函數的非線性約束表達式，則該分判定函數等于該等效變量S，如此該分判定函數轉變?yōu)殛P于該等效變量S的線性不等式約束； 則將總判定函數轉換為若干分判定函數 、 ...... 所表達的線性不等式約束條件的邏輯組合； S2：數據歸一化處理：首先將等效變量S的數值計算出來，更新為新的樣本數據集合D； 對樣本數據集合D中的所有樣本數據和總判定函數中的各常數判定值進行歸一化處理，得到各判定參數的無量綱值和歸一化的樣本數據數值； S3：劃分失效區(qū)域：根據總判定函數的所有分判定函數的線性不等式約束條件之間的邏輯關系劃分樣本空間的失效區(qū)域，規(guī)則為： 使用“與”運算符連接的兩個約束條件，兩個約束條件合并組成一個失效區(qū)域； 使用“或”運算符連接的兩個約束條件，兩個約束條件各形成一個獨立的失效區(qū)域； 則得到多個失效區(qū)域A 1 、A 2 ......A k ，根據確定的失效區(qū)域，分別得到對應的失效邊界a 1 、a 2...... a k ，其中k≤n； S4：計算各樣本數據到失效邊界的有效有向概率距離d：以失效概率增長的方向為正方向，則對于每一個歸一化的樣本數據，其在各失效區(qū)域邊界的有向距離分別為d 1 、d 2 d k ，且在各失效區(qū)域邊界的有向距離計算規(guī)則為： 由兩個約束條件合并組成的失效區(qū)域，其有向距離為樣本數據點到兩個失效邊界有向距離的最小值； 由兩個約束條件并列組成的失效區(qū)域，其有向距離為樣本數據點到兩個失效邊界有向距離的最大值； 按照先“與”后“或”的優(yōu)先級關系，計算出每個樣本數據對應的唯一的有效有向概率距離d； S5：將S4中得到的各樣本數據的有效有向概率距離d按代數值降序排列后，送入蒙特卡羅仿真算法模塊進行仿真，有向概率距離代數值越大的樣本數據，其失效的概率越大，根據要求精度條件，得到全部失效樣本。

如需購買、轉讓、實施、許可或投資類似專利技術，可聯系本專利的申請人或專利權人北京大學，其通訊地址為：100091 北京市海淀區(qū)頤和園路5號；或者聯系龍圖騰網官方客服，聯系龍圖騰網可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網”。