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龍圖騰網(wǎng)獲悉中國電子產(chǎn)品可靠性與環(huán)境試驗(yàn)研究所((工業(yè)和信息化部電子第五研究所)(中國賽寶實(shí)驗(yàn)室))申請的專利一種芯片的時(shí)鐘失效監(jiān)測功能的驗(yàn)證方法和裝置獲國家發(fā)明授權(quán)專利權(quán)，本發(fā)明授權(quán)專利權(quán)由國家知識產(chǎn)權(quán)局授予，授權(quán)公告號為：CN120162204B 。

龍圖騰網(wǎng)通過國家知識產(chǎn)權(quán)局官網(wǎng)在2025-09-12發(fā)布的發(fā)明授權(quán)授權(quán)公告中獲悉：該發(fā)明授權(quán)的專利申請?zhí)?專利號為：202510646798.5，技術(shù)領(lǐng)域涉及：G06F11/26；該發(fā)明授權(quán)一種芯片的時(shí)鐘失效監(jiān)測功能的驗(yàn)證方法和裝置是由黃中鎧;羅永震;曲晨冰;侯波;王力緯;孫宸;王梓揚(yáng);陳義強(qiáng)設(shè)計(jì)研發(fā)完成，并于2025-05-20向國家知識產(chǎn)權(quán)局提交的專利申請。

本一種芯片的時(shí)鐘失效監(jiān)測功能的驗(yàn)證方法和裝置在說明書摘要公布了：本申請涉及一種芯片的時(shí)鐘失效監(jiān)測功能的驗(yàn)證方法和裝置，涉及芯片技術(shù)領(lǐng)域。所述方法包括：控制信號發(fā)生器進(jìn)行時(shí)鐘故障參數(shù)配置，以生成時(shí)鐘故障；在確定所述芯片正常運(yùn)行，且確定所述芯片允許故障注入情況下，控制所述信號發(fā)生器向所述芯片注入所述時(shí)鐘故障，以及向所述芯片發(fā)送確認(rèn)同步信號，以使所述芯片配置時(shí)鐘失效監(jiān)測功能以進(jìn)行時(shí)鐘失效監(jiān)測；根據(jù)所述芯片反饋的時(shí)鐘失效監(jiān)測結(jié)果，確定所述時(shí)鐘失效監(jiān)測功能的驗(yàn)證結(jié)果；其中，所述時(shí)鐘失效監(jiān)測結(jié)果包括存儲器固定地址值和時(shí)鐘失效中斷標(biāo)志。采用本方法能夠?qū)崿F(xiàn)對芯片的時(shí)鐘失效監(jiān)測功能的全部功能點(diǎn)進(jìn)行全面覆蓋的驗(yàn)證。

本發(fā)明授權(quán)一種芯片的時(shí)鐘失效監(jiān)測功能的驗(yàn)證方法和裝置在權(quán)利要求書中公布了：1.一種芯片的時(shí)鐘失效監(jiān)測功能的驗(yàn)證方法，其特征在于，所述方法包括： 在預(yù)先設(shè)定的故障參數(shù)取值范圍內(nèi)獲取參數(shù)值，并將所述參數(shù)值發(fā)送至信號發(fā)生器，以使所述信號發(fā)生器按照所述參數(shù)值進(jìn)行時(shí)鐘故障參數(shù)配置，以生成時(shí)鐘故障；其中，所述故障參數(shù)包括頻率和高低電平中的至少一種； 在本次故障注入為首次故障注入的情況下，確定所述芯片正常運(yùn)行； 在本次故障注入為非首次故障注入的情況下，若上一次故障注入的事件標(biāo)志標(biāo)識正常事件，且上一次故障注入過程中所述芯片反饋的存儲器固定地址值為正常值，則確定所述芯片正常運(yùn)行；其中，所述正常值是指定次故障注入過程中所述芯片反饋的存儲器固定地址值與設(shè)定數(shù)值之和，所述指定次故障注入是所述上一次故障注入的上一次故障注入； 在確定芯片正常運(yùn)行的情況下，向所述芯片發(fā)送開始指令，并接收到所述芯片響應(yīng)所述開始指令發(fā)送的同步請求信號的情況下，確定所述芯片允許故障注入；其中，所述開始指令用于指示允許所述芯片請求故障注入，所述同步請求信號用于指示所述芯片請求故障注入； 控制所述信號發(fā)生器向所述芯片注入所述時(shí)鐘故障，以及向所述芯片發(fā)送確認(rèn)同步信號，以使所述芯片配置時(shí)鐘失效監(jiān)測功能以進(jìn)行時(shí)鐘失效監(jiān)測； 根據(jù)所述芯片反饋的時(shí)鐘失效監(jiān)測結(jié)果，確定本次故障注入的事件標(biāo)志，以得到所述時(shí)鐘失效監(jiān)測功能的驗(yàn)證結(jié)果；其中，所述事件標(biāo)志用于標(biāo)識本次故障注入所導(dǎo)致的時(shí)鐘失效事件；所述時(shí)鐘失效監(jiān)測結(jié)果包括存儲器固定地址值和時(shí)鐘失效中斷標(biāo)志。

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