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龍圖騰網(wǎng)獲悉上海索辰信息科技股份有限公司申請(qǐng)的專利一種基于交叉篩選理論的計(jì)算機(jī)輔助裝調(diào)方法獲國(guó)家發(fā)明授權(quán)專利權(quán)，本發(fā)明授權(quán)專利權(quán)由國(guó)家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局授予，授權(quán)公告號(hào)為：CN115270448B 。

龍圖騰網(wǎng)通過(guò)國(guó)家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局官網(wǎng)在2025-09-09發(fā)布的發(fā)明授權(quán)授權(quán)公告中獲悉：該發(fā)明授權(quán)的專利申請(qǐng)?zhí)?專利號(hào)為：202210853919.X，技術(shù)領(lǐng)域涉及：G06F30/20；該發(fā)明授權(quán)一種基于交叉篩選理論的計(jì)算機(jī)輔助裝調(diào)方法是由張志剛;李岳峰設(shè)計(jì)研發(fā)完成，并于2022-07-20向國(guó)家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局提交的專利申請(qǐng)。

本一種基于交叉篩選理論的計(jì)算機(jī)輔助裝調(diào)方法在說(shuō)明書(shū)摘要公布了：本發(fā)明的技術(shù)方案是提供了一種基于交叉篩選理論的計(jì)算機(jī)輔助裝調(diào)方法。本發(fā)明針對(duì)傳統(tǒng)計(jì)算機(jī)輔助裝調(diào)中出現(xiàn)的靈敏度矩陣法誤差定位偏差和對(duì)波前檢測(cè)裝備的絕對(duì)依賴問(wèn)題，提供了無(wú)需擬合并可利用多種裝配誤差信息圖像載體的計(jì)算機(jī)輔助裝調(diào)方法，尋找最接近測(cè)試結(jié)果變化規(guī)律的初始誤差模型，適用于折射、反射、同軸、離軸等多種光路結(jié)構(gòu)，有效降低光學(xué)系統(tǒng)精密裝調(diào)難度，提高光學(xué)系統(tǒng)裝調(diào)效率。

本發(fā)明授權(quán)一種基于交叉篩選理論的計(jì)算機(jī)輔助裝調(diào)方法在權(quán)利要求書(shū)中公布了：1.一種基于交叉篩選理論的計(jì)算機(jī)輔助裝調(diào)方法，其特征在于，包括以下步驟： 步驟1、依據(jù)輔助裝調(diào)復(fù)雜度屬性判斷光學(xué)系統(tǒng)拆分方式，將光學(xué)系統(tǒng)拆分為k組子系統(tǒng)，k大于等于1且小于n，n為光學(xué)組件總數(shù)； 對(duì)于步驟1拆分得到的每個(gè)光學(xué)子系統(tǒng)，分別采用以下步驟進(jìn)行處理： 步驟2、使用光學(xué)設(shè)計(jì)軟件對(duì)所設(shè)計(jì)的光學(xué)子系統(tǒng)進(jìn)行大量失調(diào)裝配仿真，依據(jù)預(yù)設(shè)的精度范圍和步長(zhǎng)，窮舉得到大量失調(diào)狀況的失調(diào)光學(xué)系統(tǒng)波前圖像信息F1i或失調(diào)光學(xué)系統(tǒng)星點(diǎn)圖像信息P1i，每個(gè)失調(diào)光學(xué)系統(tǒng)波前圖像信息F1i或失調(diào)光學(xué)系統(tǒng)星點(diǎn)圖像信息P1i對(duì)應(yīng)一個(gè)失調(diào)誤差模型，所有失調(diào)誤差模型組成失調(diào)集合M1，其中，F(xiàn)1i表示第i個(gè)失調(diào)光學(xué)系統(tǒng)波前圖像信息，P1i表示第i個(gè)失調(diào)光學(xué)系統(tǒng)星點(diǎn)圖像信息，1＜i≤h，h為窮舉總數(shù)； 步驟3、粗裝光學(xué)子系統(tǒng)，測(cè)量得到光學(xué)系統(tǒng)波前圖像信息Ft1或光學(xué)系統(tǒng)星點(diǎn)圖像信息Pt1； 步驟4、對(duì)步驟3獲得的光學(xué)系統(tǒng)波前圖像信息Ft1或光學(xué)系統(tǒng)星點(diǎn)圖像信息Pt1與步驟1獲得的失調(diào)光學(xué)系統(tǒng)波前圖像信息F1i或失調(diào)光學(xué)系統(tǒng)星點(diǎn)圖像信息P1i進(jìn)行相似度匹配，從失調(diào)集合M1中篩選出相似度較高的失調(diào)光學(xué)系統(tǒng)波前圖像或失調(diào)光學(xué)系統(tǒng)星點(diǎn)圖像所對(duì)應(yīng)的部分失調(diào)誤差模型，這部分失調(diào)誤差模型組成初始誤差模型父集M2，M2∈M1； 步驟5、準(zhǔn)確調(diào)整粗裝光學(xué)子系統(tǒng)中的一個(gè)或多個(gè)誤差變量，誤差變量的調(diào)整值為?xs，并再次測(cè)量得到改變后的光學(xué)系統(tǒng)波前圖像信息Ft2或光學(xué)系統(tǒng)星點(diǎn)圖像信息Pt2； 步驟6、將誤差變量的調(diào)整值?xs反饋輸入給初始誤差模型父集M2中的各個(gè)失調(diào)誤差模型，再次對(duì)初始誤差模型父集M2進(jìn)行失調(diào)裝配仿真，得到初始誤差模型父集M2的二次仿真結(jié)果，即獲得二次仿真的失調(diào)光學(xué)系統(tǒng)波前圖像信息F2i或失調(diào)光學(xué)系統(tǒng)星點(diǎn)圖像信息P2i； 步驟7、對(duì)步驟5獲得的光學(xué)系統(tǒng)波前圖像信息Ft2或光學(xué)系統(tǒng)星點(diǎn)圖像信息Pt2與步驟6獲得的失調(diào)光學(xué)系統(tǒng)波前圖像信息F2i或失調(diào)光學(xué)系統(tǒng)星點(diǎn)圖像信息P2i進(jìn)行相似度匹配，在初始誤差模型父集M2中篩選出具有較高相似度的失調(diào)光學(xué)系統(tǒng)波前圖像信息F2i或失調(diào)光學(xué)系統(tǒng)星點(diǎn)圖像信息P2i所對(duì)應(yīng)的部分失調(diào)誤差模型，這部分失調(diào)誤差模型組成初始誤差模型父集的子集M3，M3∈M2，完成一輪交叉篩選； 步驟8、重復(fù)步驟5、步驟6和步驟7，使得初始誤差模型父集的子集不斷進(jìn)行交叉篩選，直到篩選出最終一組失調(diào)誤差模型mq，q為交叉篩選次數(shù)；在每輪交叉篩選過(guò)程中，下一輪交叉篩選所調(diào)整的誤差變量與上一輪交叉篩選不相同，確保每個(gè)誤差變量在整個(gè)光學(xué)子系統(tǒng)的裝調(diào)過(guò)程中只改變一次； 步驟9、所篩選出的最終一組失調(diào)誤差模型mq最符合該光學(xué)子系統(tǒng)在進(jìn)行調(diào)節(jié)時(shí)波前或星點(diǎn)的變化規(guī)律，其失調(diào)誤差模型對(duì)應(yīng)著光學(xué)系統(tǒng)的初始失調(diào)量，按照此初始失調(diào)量進(jìn)行裝調(diào)即可完成對(duì)光學(xué)子系統(tǒng)的裝調(diào)。

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