廣東工業大學吳宗澤獲國家專利權
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龍圖騰網獲悉廣東工業大學申請的專利一種LCD屏幕中線缺陷檢測及缺陷信息提取方法獲國家發明授權專利權,本發明授權專利權由國家知識產權局授予,授權公告號為:CN115375629B 。
龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-09-09發布的發明授權授權公告中獲悉:該發明授權的專利申請號/專利號為:202210933144.7,技術領域涉及:G06T7/00;該發明授權一種LCD屏幕中線缺陷檢測及缺陷信息提取方法是由吳宗澤;鄭杰;任志剛;魏聰;龔文超;梁曉灃;劉臻銘;郭馬薩迪;周坤設計研發完成,并于2022-08-04向國家知識產權局提交的專利申請。
本一種LCD屏幕中線缺陷檢測及缺陷信息提取方法在說明書摘要公布了:本發明公開了一種LCD屏幕中線缺陷檢測及缺陷信息提取方法、系統及計算機可讀存儲介質,方法包括:S1.獲取待檢測圖像,對待檢測圖像進行ROI圖像裁剪,用于提取圖像中實際待檢測的區域;S2.利用不同尺寸的濾波核對得到的ROI圖像進行高斯濾波,得到ROI圖像的前景圖和背景圖;S3.將所述前景圖和背景圖進行圖像差分,得到前背景分離圖;S4.對所述前背景分離圖進行Canny邊緣檢測,得到對缺陷進行了描邊的Canny檢測圖;S5.對Canny檢測圖進行漸進概率霍夫線變換,得到線缺陷的信息;S6.對提取出來的缺陷信息重新聚類,獲取準確的缺陷信息。本發明提高了屏幕中線缺陷檢測準確度和效率。
本發明授權一種LCD屏幕中線缺陷檢測及缺陷信息提取方法在權利要求書中公布了:1.一種LCD屏幕中線缺陷檢測及缺陷信息提取方法,其特征在于,包括以下步驟: S1.獲取待檢測圖像,對待檢測圖像進行ROI圖像裁剪,用于提取圖像中實際待檢測的區域; S2.利用不同尺寸的濾波核對得到的ROI圖像進行高斯濾波,得到ROI圖像的前景圖和背景圖,其中所述不同尺寸的濾波核包括:5×5的小核,105×105的大核,其中5×5的小核用于盡可能消除摩爾紋的影響,105×105的大核用于獲取一張顏色均衡的背景圖; S3.將所述前景圖和背景圖進行圖像差分,得到前背景分離圖; S4.對所述前背景分離圖進行Canny邊緣檢測,得到對缺陷進行了描邊的Canny檢測圖; S5.對Canny檢測圖進行漸進概率霍夫線變換,得到線缺陷的信息; S6.對提取出來的缺陷信息重新聚類,獲取準確的缺陷信息; 對提取出來的缺陷信息重新聚類,獲取準確的缺陷信息具體步驟為: S601.求出線段集合里每條線段的角度θ( {|}),然后將線段按角度進行分簇,得到線段按角度分類的簇;其中,角度不同的線段顯然不會是一條線上的; S602.將步驟S601中得到的簇里的線段進行坐標系投影,角度為0的線段向Y軸投影,角度為90的線段向X軸投影,角度在(0,90)或(-90,0)的線段,則先將坐標系旋轉,求出坐標系旋轉后的點的坐標,再向坐標系投影; S603.對于角度在(90,-90)的線段則先進行坐標系旋轉,再向旋轉后的坐標系進行投影; S604.將投影出來的點進行聚類; S605.將分好簇的線段進行處理,得到線缺陷的缺陷信息。
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