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龍圖騰網獲悉中國科學院長春光學精密機械與物理研究所申請的專利CMOS探測器調試系統及檢測方法獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN115480143B 。

龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-09-09發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202211113813.2，技術領域涉及：G01R31/26；該發明授權CMOS探測器調試系統及檢測方法是由余達;李國寧;梅貴;李強;齊彪;王爽;安威設計研發完成，并于2022-09-14向國家知識產權局提交的專利申請。

本CMOS探測器調試系統及檢測方法在說明書摘要公布了：CMOS探測器的調試系統及檢測方法，涉及CMOS探測器篩選測試領域，解決現有CMOS探測器上電過程中，易出現燒毀芯片、SPI寫操作錯誤以及圖像模糊等問題，包括VDD18D、VDD18AD和VDD5A的LDO供電及電流檢測電路、電荷轉移柵低壓供電及電流檢測電路、像素和基準源供電及電流檢測電路、源級跟隨器供電及電流檢測電路、電荷轉移柵高壓供電及電流檢測電路和電平轉換電路；本發明對探測器的供電電源進行了限流設置，設置了最大輸出電流，同時根據CMOS探測器上電過程中可能出現的各種異常現象對探測器的狀態進行診斷，并進行相應處理，避免由于錯誤狀態而把所有的供電全加上而出現異常大電流。

本發明授權CMOS探測器調試系統及檢測方法在權利要求書中公布了：1.CMOS探測器的檢測方法，其特征是：該檢測方法通過CMOS探測器調試系統實現，包括控制器和探測器，還包括VDD18D、VDD18AD和VDD5A的LDO供電及電流檢測電路、電荷轉移柵低壓供電及電流檢測電路、像素和基準源供電及電流檢測電路、源級跟隨器供電及電流檢測電路、電荷轉移柵高壓供電及電流檢測電路和電平轉換電路； 所述控制器給探測器提供探測器的系統工作時鐘，輸出的信號經電平轉換電路后形成SPI及控制信號；控制器同時通過對VDD18D、VDD18AD和VDD5A的LDO供電及電流檢測電路，電荷轉移柵低壓供電及電流檢測電路，像素和基準源供電及電流檢測電路，源級跟隨器供電及電流檢測電路，電荷轉移柵高壓供電及電流檢測電路和電平轉換電路進行控制，按照探測器的上電時序要求產生各部分供電和控制信號的上電時序； 所述探測器輸出串行圖像數據，送控制器進行串行圖像數據的訓練后轉換為并行圖像數據； 該方法的具體步驟如下： 步驟一、上電后，依次檢測VDD18D、VDD18AD和VDD5A的LDO電流值；控制器向探測器發送系統復位信號SYS_RST_N并回讀SPI寄存器的值；對探測器的SPI寄存器讀寫操作數據值的判斷以及檢測探測器輸出串行圖像數據中的伴隨時鐘，實現探測器各管腳間的連接間的連通，無異常后，執行步驟二； 步驟二、控制器向探測器輸出驅動控制信號，經電平轉換電路后送入探測器； 步驟三、電荷轉移柵低壓供電及電流檢測電路、像素和基準源供電及電流檢測電路開始供電輸出，然后檢測電荷轉移柵低壓供電、像素和基準源供電的估算電流Ievaluate_1；若在上電階段LDO輸出端的電容均充電完畢后，檢測到的電流小于等于2倍估算電流Ievaluate_1，則執行步驟四，否則檢查電流偏大的供電電路并進行異常處理； 步驟四、源級跟隨器供電、電荷轉移柵高壓供電開始供電輸出，然后檢測電荷轉移柵高壓供電、源級跟隨器供電電路的估算電流Ievaluate_2；若在上電穩定LDO輸出端的電容均充電完畢后，檢測到的電流小于等于2倍估算電流Ievaluate_2，則執行步驟五，否則檢查電流偏大的供電電路并進行相應處理； 步驟五、控制器接收探測器輸出的串行圖像數據，進行串行圖像數據的訓練；當檢測到的穩定tap數小于工作頻率所決定的tap數的一半，或者出現訓練后的圖像模糊，則檢查探測器的串行圖像數據管腳是否存在接觸不良；處理完畢或者無異常現象則執行步驟六； 基于串行圖像數據的頻率、IODELAY的參考時鐘頻率及IODELAY的最大tap數估算檢測到的穩定區域所對應的最大tap數； 步驟六、輸出探測器的感光圖像；通過改變入射光能量，看輸出是否跟隨變化，若不跟隨變化感光性差，則檢查驅動控制信號的相關管腳。

如需購買、轉讓、實施、許可或投資類似專利技術，可聯系本專利的申請人或專利權人中國科學院長春光學精密機械與物理研究所，其通訊地址為：130033 吉林省長春市東南湖大路3888號；或者聯系龍圖騰網官方客服，聯系龍圖騰網可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網”。