上海復享光學股份有限公司賀曉龍獲國家專利權
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龍圖騰網獲悉上海復享光學股份有限公司申請的專利光譜儀調試方法及輔助裝置獲國家發明授權專利權,本發明授權專利權由國家知識產權局授予,授權公告號為:CN116026461B 。
龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-09-09發布的發明授權授權公告中獲悉:該發明授權的專利申請號/專利號為:202211609995.2,技術領域涉及:G01J3/28;該發明授權光譜儀調試方法及輔助裝置是由賀曉龍;王婷婷;雷雨;胡松婷;崔靖;石磊;殷海瑋設計研發完成,并于2022-12-12向國家知識產權局提交的專利申請。
本光譜儀調試方法及輔助裝置在說明書摘要公布了:本發明涉及一種光譜儀調試方法及輔助裝置,該調試方法包括步驟:提供分光鏡,將該分光鏡與待調試光譜儀的主光軸呈一定夾角地設置于待調試光譜儀的入口處;提供光源,利用光源沿主光軸的方向向待調試光譜儀發射入射光,該入射光經分光鏡分光后打入待調試光譜儀,并由待調試光譜儀反射回分光鏡形成一反射光;提供光譜檢測設備,在調試待調試光譜儀的過程中,檢測反射光的光譜強度,觀察各波段光譜強度變化情況,以光譜強度越強、像面重合度越高為原則針對性調試待調試光譜儀,直至各波段的光譜強度值達到預設標準。本發明調試簡單、快速,且調試精確度高,可支持多種入射光源,能夠更全面地實現光譜儀的像面重合優化。
本發明授權光譜儀調試方法及輔助裝置在權利要求書中公布了:1.一種光譜儀調試方法,其特征在于,包括步驟: 提供分光鏡,將所述分光鏡與待調試光譜儀的主光軸呈一定夾角地設置于所述待調試光譜儀的入口處,設所述分光鏡上相對遠離所述待調試光譜儀的一側為第一鏡面、相對靠近所述待調試光譜儀的一側為第二鏡面; 提供光源,利用所述光源沿所述主光軸的方向向所述第一鏡面發射入射光,所述入射光經所述分光鏡分光后射入所述待調試光譜儀,并由所述待調試光譜儀反射回所述分光鏡的第二鏡面形成一束反射光; 提供可對光束進行波長或頻率維度的色散并對不同波長的光強度進行表征的光譜檢測設備,在調試所述待調試光譜儀的過程中,利用所述光譜檢測設備檢測所述反射光的光譜強度,觀察各波段的光譜強度的變化情況,并以光譜強度越強、像面重合度越高為原則有針對性地調試所述待調試光譜儀,直至各波段的光譜強度值達到預設光譜強度標準。
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