安圖實驗儀器(鄭州)有限公司王聰獲國家專利權(quán)
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龍圖騰網(wǎng)獲悉安圖實驗儀器(鄭州)有限公司申請的專利基于電流源芯片的光強調(diào)節(jié)電路板的檢測方法獲國家發(fā)明授權(quán)專利權(quán),本發(fā)明授權(quán)專利權(quán)由國家知識產(chǎn)權(quán)局授予,授權(quán)公告號為:CN116449176B 。
龍圖騰網(wǎng)通過國家知識產(chǎn)權(quán)局官網(wǎng)在2025-09-09發(fā)布的發(fā)明授權(quán)授權(quán)公告中獲悉:該發(fā)明授權(quán)的專利申請?zhí)?專利號為:202310289549.6,技術(shù)領(lǐng)域涉及:G01R31/28;該發(fā)明授權(quán)基于電流源芯片的光強調(diào)節(jié)電路板的檢測方法是由王聰;尤紅艷;李萌萌;王超;劉聰;魏文娟設(shè)計研發(fā)完成,并于2023-03-23向國家知識產(chǎn)權(quán)局提交的專利申請。
本基于電流源芯片的光強調(diào)節(jié)電路板的檢測方法在說明書摘要公布了:本發(fā)明公開了一種基于電流源芯片的光強調(diào)節(jié)電路板的檢測方法,1,將待檢測的光強調(diào)節(jié)電路板放置于承載板上;2,操作PC機與工控器建立通信連接;3,在PC機上輸入光強調(diào)節(jié)電路板的參數(shù)信息;4,工控器向光強調(diào)節(jié)電路板發(fā)送低、中、高三種光強指令,電流源芯片向光源輸出低、中、高三種電流值,經(jīng)光電轉(zhuǎn)換模塊將低、中、高三種光強值Id、Iz、Ig轉(zhuǎn)換為電信號后輸出給MCU;6,MCU將Id、Iz、Ig發(fā)送給工控器;7,工控器計算低光強值和中光強值的差值ΔIzd、中光強值和高光強值的差值ΔIgz;當(dāng)ΔIzd、ΔIgz分別大于設(shè)定的判斷閾值時,則光強調(diào)節(jié)電路板檢測合格,否則不合格,從而實現(xiàn)了自動檢測光強調(diào)節(jié)電路板功能是否良好。
本發(fā)明授權(quán)基于電流源芯片的光強調(diào)節(jié)電路板的檢測方法在權(quán)利要求書中公布了:1.一種基于電流源芯片的光強調(diào)節(jié)電路板的檢測方法,其特征在于,采用專用檢測系統(tǒng),所述專用檢測系統(tǒng)包括:用于承載待檢測光強調(diào)節(jié)電路板的承載板、光電轉(zhuǎn)換單元、工控器和PC機;所述承載板上設(shè)置有防呆機構(gòu)和光源驅(qū)動接插口、SPI通信接插口、CAN通信接插口;所述光電轉(zhuǎn)換單元包括光源、光電轉(zhuǎn)換模塊、AD轉(zhuǎn)換模塊,所述光電轉(zhuǎn)換模塊輸出端與所述AD轉(zhuǎn)換模塊輸入端連接,將接收的光強轉(zhuǎn)換為電信號后輸出給所述AD轉(zhuǎn)換模塊;AD轉(zhuǎn)換模塊輸出端與所述SPI通信接插口連接;所述工控器通過CAN總線與所述CAN通信接插口連接,并通過網(wǎng)口與所述PC機通信連接,所述PC機的IP地址與所述工控器的IP地址為同一網(wǎng)段; 所述檢測方法為: 步驟1,將待檢測的所述光強調(diào)節(jié)電路板放置于承載板上,通過所述防呆機構(gòu)使所述光源驅(qū)動接插口、SPI通信接插口和CAN通信接插口分別與所述光強調(diào)節(jié)電路板對應(yīng)接口連接定位; 步驟2,操作PC機輸入網(wǎng)址,打開PC機網(wǎng)頁版可視化界面,在所述可視化界面指令區(qū)輸入連接指令,使PC機與所述工控器建立通信連接; 步驟3,在PC機的網(wǎng)頁版可視化界面參數(shù)區(qū)輸入光強調(diào)節(jié)電路板的參數(shù)信息,并發(fā)送給工控器; 步驟4,工控器通過所述SPI通信接插口向光強調(diào)節(jié)電路板的MCU依次發(fā)送低、中、高三種光強指令,所述MCU接收所述指令后依次向光強調(diào)節(jié)電路板的電流源芯片輸出預(yù)設(shè)的低、中、高三種電壓值,所述電流源芯片根據(jù)所述低、中、高三種電壓值,依次向所述光源輸出預(yù)設(shè)的低、中、高三種電流值,驅(qū)動所述光源依次發(fā)出所對應(yīng)的低、中、高三種光強值Id、Iz、Ig; 步驟5,所述光電轉(zhuǎn)換模塊依次將接收的所述低、中、高三種光強值Id、Iz、Ig轉(zhuǎn)換為電信號后,經(jīng)AD轉(zhuǎn)換模塊和所述SPI通信接插口輸出給所述MCU; 步驟6,所述MCU依次將接收的所述低、中、高三種光強值Id、Iz、Ig經(jīng)CAN通信接插口發(fā)送給所述工控器; 步驟7,所述工控器根據(jù)接收的所述低、中、高三種光強值Id、Iz、Ig,分別計算低光強值和中光強值的差值ΔIzd、中光強值和高光強值的差值ΔIgz;當(dāng)所述ΔIzd、ΔIgz分別大于設(shè)定的判斷閾值時,則所述光強調(diào)節(jié)電路板檢測合格,否則不合格; 步驟8,所述工控器通過所述網(wǎng)口將檢測結(jié)果發(fā)送給所述PC機的網(wǎng)頁版可視化界面顯示。
如需購買、轉(zhuǎn)讓、實施、許可或投資類似專利技術(shù),可聯(lián)系本專利的申請人或?qū)@麢?quán)人安圖實驗儀器(鄭州)有限公司,其通訊地址為:450016 河南省鄭州市經(jīng)濟技術(shù)開發(fā)區(qū)第十五大街199號;或者聯(lián)系龍圖騰網(wǎng)官方客服,聯(lián)系龍圖騰網(wǎng)可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網(wǎng)”。
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