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龍圖騰網獲悉中國民航大學申請的專利一種多脈沖光譜干涉的光學頻率梳測距裝置及方法獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN119716883B 。

龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-09-09發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202510246613.1，技術領域涉及：G01S17/10；該發明授權一種多脈沖光譜干涉的光學頻率梳測距裝置及方法是由邢書劍;王芙溶;常孟斐;王翼昭設計研發完成，并于2025-03-04向國家知識產權局提交的專利申請。

本一種多脈沖光譜干涉的光學頻率梳測距裝置及方法在說明書摘要公布了：本發明涉及一種多脈沖光譜干涉的光學頻率梳測距裝置及方法，包含兩個邁克爾遜干涉儀，光學頻率梳發出的光在分束器被分為兩束，經分束器反射光被參考反射鏡反射，作為參考光；經分束器透射光依次被半透半反鏡和測量反射鏡反射，作為兩個測量光。參考光和兩個測量光會發生干涉，產生的多脈沖光譜干涉信號由光譜儀探測接收，利用多脈沖光譜干涉信號中的相位信息，同步確定測量光路中的群折射率和測距結果，利用實時測量的群折射率對測距結果進行補償，保證了納米量級的測距精度，通過微調重復頻率和差分計算可以將被測距離由光譜干涉測距的非模糊范圍拓展至任意長度。本發明方法簡單可靠，可以實現大量程高精度絕對距離測量。

本發明授權一種多脈沖光譜干涉的光學頻率梳測距裝置及方法在權利要求書中公布了：1.一種多脈沖光譜干涉的光學頻率梳測距裝置的測距方法，其特征在于：測距裝置包括光學頻率梳FC、分束器BS、參考反射鏡MR、半透半反鏡HM、測量反射鏡MT、遮光板S1、遮光板S2、遮光板S3和光譜儀；參考反射鏡MR、分束器BS、半透半反鏡HM和測量反射鏡MT構成了兩個邁克爾遜干涉儀，參考反射鏡MR、分束器BS、半透半反鏡HM構成邁克爾遜干涉儀A，參考反射鏡MR、分束器BS、測量反射鏡MT構成邁克爾遜干涉儀B，光學頻率梳FC、分束器BS、半透半反鏡HM和測量反射鏡MT依次設置在同一水平面，分束器BS的上方設有參考反射鏡MR，分束器BS的下方設有光譜儀，遮光板S1設置在參考反射鏡MR和分束器BS之間，遮光板S2設置在半透半反鏡HM和分束器BS之間，遮光板S3設置在半透半反鏡HM和測量反射鏡MT之間； 光譜儀還連接數據處理計算機，光譜儀探測接收經參考反射鏡MR反射的參考光、半透半反鏡HM反射的測量光1和測量反射鏡MT反射的測量光2在分束器BS合光后產生的多脈沖光譜干涉信號，光譜儀將測量到的信號發送到數據處理計算機進行處理； 測距方法，包括以下步驟： 步驟1、放置測量反射鏡MT，使邁克爾遜干涉儀B兩臂的距離差為被測距離L； 步驟2、對半透半反鏡HM和測量反射鏡MT之間的距離進行標定，得到參考間距d； 步驟3、打開遮光板S1、關閉遮光板S2，記錄由參考反射鏡MR反射的光的光強；關閉遮光板S1、打開遮光板S2、關閉遮光板S3，記錄由半透半反鏡HM反射的光的光強；關閉遮光板S1、打開遮光板S2、打開遮光板S3，記錄由半透半反鏡HM和測量反射鏡MT共同反射的光的光強，由和的差值計算得到由測量反射鏡MT反射的光的光強； 步驟4、根據步驟3得到的光強，計算偽時域內測量光1和測量光2之間的時間延遲，以及兩個測量光相對于參考光的時間延遲和； 步驟5、根據步驟4得到的延遲數據，計算實際測量光路的群折射率； 根據半透半反鏡HM和測量反射鏡MT之間的參考間距d與非模糊范圍L NAR0 之間的數值關系確定測量光2相對于測量光1實際的時間延遲： ； 式中，為測量光2相對于測量光1實際的時間延遲，m為自然數，為光譜干涉測距的非模糊范圍，為光學頻率梳相鄰脈沖之間的光學距離，c為真空中光速，為光學頻率梳的重復頻率，n g0 為測量光路中的群折射率； 通過標定參考間距d確定真空中測量光2相對于測量光1的時間延遲，對比和計算出實際測量光路的群折射率： ； 步驟6、根據步驟5得到實際測量光路的群折射率計算被測距離L。

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