圣邦微電子(北京)股份有限公司邴春秋獲國家專利權
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龍圖騰網獲悉圣邦微電子(北京)股份有限公司申請的專利高精度模數轉換芯片的測試裝置和測試方法獲國家發明授權專利權,本發明授權專利權由國家知識產權局授予,授權公告號為:CN114157297B 。
龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-09-05發布的發明授權授權公告中獲悉:該發明授權的專利申請號/專利號為:202010935169.1,技術領域涉及:H03M1/10;該發明授權高精度模數轉換芯片的測試裝置和測試方法是由邴春秋設計研發完成,并于2020-09-08向國家知識產權局提交的專利申請。
本高精度模數轉換芯片的測試裝置和測試方法在說明書摘要公布了:本發明公開了一種高精度模數轉換芯片的測試裝置和測試方法,該測試裝置包括:電源模塊,用于提供高精度的多個模擬輸入信號,所述多個模擬輸入信號經過多個待測模數轉換芯片后被轉換為多組數字信號;數字萬用表,與待測模數轉換芯片的輸入端連接,用于對所述多個模擬輸入信號進行精準測量,以獲得對應的多個測量值;測試機,用于將所述多個測試值依次和所述多組數字信號中的一組數字信號進行對比,以分別獲得多個待測模數轉換芯片的測試精度,其中,每組數字信號均對應包括多個數字信號。本發明實現了對待測模數轉換芯片的高精度和高效率的測試,有利于實現待測模數轉換芯片的穩定量產測試。
本發明授權高精度模數轉換芯片的測試裝置和測試方法在權利要求書中公布了:1.一種高精度模數轉換芯片的測試裝置,其特征在于,包括: 電源模塊,用于提供高精度的多個模擬輸入信號,所述多個模擬輸入信號經過多個待測模數轉換芯片后被轉換為多組數字信號; 數字萬用表,與待測模數轉換芯片的輸入端連接,用于對所述多個待測模數轉換芯片所接收的所述多個模擬輸入信號進行精準測量,以獲得對應的多個測量值; 測試機,用于將所述多個測量值依次和所述多組數字信號中的一組數字信號進行對比,以分別獲得多個待測模數轉換芯片的測試精度, 其中,每組數字信號均對應包括多個數字信號。
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