北京航空航天大學全偉獲國家專利權
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龍圖騰網獲悉北京航空航天大學申請的專利一種基于光場調控的極化梯度檢測及抑制結構獲國家發明授權專利權,本發明授權專利權由國家知識產權局授予,授權公告號為:CN115980382B 。
龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-09-05發布的發明授權授權公告中獲悉:該發明授權的專利申請號/專利號為:202210999827.2,技術領域涉及:G01P3/36;該發明授權一種基于光場調控的極化梯度檢測及抑制結構是由全偉;高航;袁琳琳設計研發完成,并于2022-08-19向國家知識產權局提交的專利申請。
本一種基于光場調控的極化梯度檢測及抑制結構在說明書摘要公布了:一種基于光場調控的極化梯度檢測及抑制結構,通過在裝置主結構上設置抽運光路搭配結構和檢測光路選擇結構,能夠直接更換不同的抽運、檢測光路,從而實現各梯度檢測及梯度抑制方案的搭配組合,方便驗證最佳組合方案,提升實驗效率。
本發明授權一種基于光場調控的極化梯度檢測及抑制結構在權利要求書中公布了:1.一種基于光場調控的極化梯度檢測及抑制結構,其特征在于,包括居中設置有原子氣室承載裝置的裝置主結構,所述原子氣室承載裝置的上側和下側分布著抽運光路搭配結構,所述原子氣室承載裝置的右側分布著檢測光路選擇結構,以便直接更換不同的抽運、檢測光路,實現各梯度檢測及梯度抑制方案的搭配組合,從而驗證最佳組合方案以提升實驗效率; 所述抽運光路搭配結構包括位于所述原子氣室承載裝置上側的第一抽運光路底板,和位于所述原子氣室承載裝置下側的第三抽運光路底板,第一抽運光路底板安裝在所述裝置主結構的上表面,所述第三抽運光路底板具有與所述裝置主結構上表面相結合的統一安裝接口,第一抽運光路與第三抽運光路搭配使用,檢測光路用于檢測原子系綜的極化梯度,抽運光路用于抑制原子系綜的極化梯度,所述原子氣室承載裝置上的原子氣室用于承載所述原子系綜; 所述第一抽運光路底板上包括與第一抽運光路相適配的依次串聯的光纖準直器安裝板、格蘭泰勒棱鏡安裝架、第一偏振分光棱鏡安裝架、第一透鏡安裝架、第二透鏡安裝架、第一漫射體安裝架、第二漫射體安裝架、第一反射鏡、第一光隔安裝架和第一波片安裝架,所述第一光隔安裝架的側邊設置有第一光電探測器支架; 所述第三抽運光路底板上包括與第三抽運光路相適配的依次串聯的第三反射鏡、第三透鏡安裝架、第四透鏡安裝架、第三漫射體安裝架、第四漫射體安裝架、第四反射鏡、第二光隔安裝架和第二波片安裝架,在第一抽運光路和第三抽運光路的搭配使用中,通過第一偏振分光棱鏡安裝架與第三反射鏡配合形成沿Z軸正向入射原子系綜的第一抽運光和沿Z軸負向入射原子系綜的第三抽運光。
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