華東光電集成器件研究所李文翰獲國家專利權
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龍圖騰網獲悉華東光電集成器件研究所申請的專利一種毫米波寬帶IMPATT管超薄硅材料制備方法獲國家發明授權專利權,本發明授權專利權由國家知識產權局授予,授權公告號為:CN116053132B 。
龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-09-05發布的發明授權授權公告中獲悉:該發明授權的專利申請號/專利號為:202211342034.X,技術領域涉及:H10D8/01;該發明授權一種毫米波寬帶IMPATT管超薄硅材料制備方法是由李文翰;廖啟超;潘結斌;陳婧瑤;史一明;李澤瑞;王文婧;郁兆華設計研發完成,并于2022-10-31向國家知識產權局提交的專利申請。
本一種毫米波寬帶IMPATT管超薄硅材料制備方法在說明書摘要公布了:本發明提供一種毫米波寬帶IMPATT管超薄硅材料制備方法,采用多次離子注入工藝手段,在本征硅層上利用數次磷、硼雜質的離子注入與RTA退火工藝,使得材料內部雜質元素凈摻雜分布按照IMPATT管器件設計的P+、P、N與N+區4個區域,形成不同的分布較為均勻的濃度分布臺階。本明具有操作步驟簡單、實施方式簡便,生產成本低廉,制備周期短等優點。
本發明授權一種毫米波寬帶IMPATT管超薄硅材料制備方法在權利要求書中公布了:1.一種毫米波寬帶IMPATT管超薄硅材料制備方法,其特征在于:它包括以下步驟:S1、取一片硅片作為N型低阻襯底層(2),在N型低阻襯底層(2)上表面上生成出本征硅層(10),在本征硅層(10)設有氧化的保護層(1); S2、在N型低阻襯底層(2)一側的本征硅層(10)內通過至少一次的磷元素離子注入與RTA退火制備出IMPATT器件的N區(3); S3、在N區(3)一側的本征硅層外延層內通過至少一次的硼元素離子注入與RTA制備出IMPATT器件的P區(4); S4、P區(4)和保護層(1)之間的本征硅層(10)內通過至少一次硼元素離子注入與RTA退火制備出IMPATT器件的P+區(5); S5、在保護層(1)表面再設置補償層(6); S6、在P+區(5)再次注入硼元素離子進行補償,從而確保P+區(5)與保護層(1)界面處硼元素離子的濃度; S7、采用濕法腐蝕的方法去除保護層(1)和補償層(6)從而得到毫米波寬帶IMPATT管超薄硅材料; 所述S1中的N型低阻襯底層(2)為N111砷摻雜,厚度625±10微米,電阻率0.002-0.003Ω·cm;所述本征硅層(10)的外延層厚度為0.9~1.4μm,所述保護層(1)為二氧化硅淀積厚度為300?; 在所述步驟S6中再次注入硼元素離子,注入能量為20~40keV,劑量為1e14~1.2e14Atomscm2;而后再次進行RTA退火激活,退火溫度1000℃,時間30~40s。
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