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龍圖騰網(wǎng)獲悉北信縱橫信息技術(shù)有限公司申請(qǐng)的專利一種基站包裹式太陽(yáng)能面板故障檢測(cè)方法獲國(guó)家發(fā)明授權(quán)專利權(quán)，本發(fā)明授權(quán)專利權(quán)由國(guó)家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局授予，授權(quán)公告號(hào)為：CN120222963B 。

龍圖騰網(wǎng)通過(guò)國(guó)家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局官網(wǎng)在2025-09-02發(fā)布的發(fā)明授權(quán)授權(quán)公告中獲悉：該發(fā)明授權(quán)的專利申請(qǐng)?zhí)?專利號(hào)為：202510520219.2，技術(shù)領(lǐng)域涉及：H02S50/10；該發(fā)明授權(quán)一種基站包裹式太陽(yáng)能面板故障檢測(cè)方法是由陳興宇;趙寧寧;曾云峰;盧桂玲;高愛(ài)軍設(shè)計(jì)研發(fā)完成，并于2025-04-24向國(guó)家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局提交的專利申請(qǐng)。

本一種基站包裹式太陽(yáng)能面板故障檢測(cè)方法在說(shuō)明書(shū)摘要公布了：本發(fā)明公開(kāi)了一種基站包裹式太陽(yáng)能面板故障檢測(cè)方法，涉及故障檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域，本發(fā)明，獲取太陽(yáng)能面板的功率數(shù)據(jù)及環(huán)境參數(shù)，采用高頻采樣和滑動(dòng)窗口濾波處理，通過(guò)時(shí)間序列建模，結(jié)合自回歸和移動(dòng)平均特性，識(shí)別短時(shí)功率波動(dòng)特征，并計(jì)算功率變化率，檢測(cè)異常功率波動(dòng)；功率異常篩選階段，基于時(shí)間序列分析與歷史功率數(shù)據(jù)進(jìn)行對(duì)比，同時(shí)引入光照功率映射模型，以回歸分析建立光照與功率之間的映射關(guān)系，剔除因短時(shí)光照變化導(dǎo)致的誤判，故障識(shí)別階段，結(jié)合紅外熱成像分析太陽(yáng)能面板的溫度分布，計(jì)算溫度均值及方差，判斷是否存在局部過(guò)熱現(xiàn)象，并通過(guò)光照數(shù)據(jù)與熱成像數(shù)據(jù)的交叉比對(duì)，判斷功率下降是由短時(shí)遮擋還是面板損壞所引起。

本發(fā)明授權(quán)一種基站包裹式太陽(yáng)能面板故障檢測(cè)方法在權(quán)利要求書(shū)中公布了：1.一種基站包裹式太陽(yáng)能面板故障檢測(cè)方法，其特征在于：包括， 步驟S1，采集太陽(yáng)能面板的功率數(shù)據(jù)，包括輸出功率、電流、電壓，以及環(huán)境數(shù)據(jù)，形成監(jiān)測(cè)數(shù)據(jù)集； 步驟S2，對(duì)步驟S1采集的功率數(shù)據(jù)進(jìn)行高頻采樣，構(gòu)建時(shí)間序列模型并識(shí)別短時(shí)功率波動(dòng)特征； 步驟S3，基于步驟S2處理后的功率變化趨勢(shì)與歷史功率數(shù)據(jù)和光照模型進(jìn)行對(duì)比，判斷功率下降是否符合短時(shí)遮擋特征，并篩選異常情況； 步驟S4，根據(jù)步驟S3篩選出的異常情況進(jìn)行故障識(shí)別，結(jié)合紅外熱成像，分析太陽(yáng)能面板的熱分布，區(qū)分功率下降是由面板故障還是由光照遮擋引起； 步驟S5，基于步驟S4的故障識(shí)別信息，生成對(duì)應(yīng)維護(hù)指令，或通知維護(hù)人員執(zhí)行維護(hù)操作； 步驟S2中，對(duì)功率變化趨勢(shì)進(jìn)行分析識(shí)別短時(shí)功率波動(dòng)特征，步驟為： 計(jì)算短時(shí)功率變化率，計(jì)算公式為： ΔPt＝P′t-P′t-1， 設(shè)定波動(dòng)閾值ΘP，識(shí)別異常波動(dòng)： 若|ΔPt|ΘP，則判定為短時(shí)功率波動(dòng)， 其中，ΔPt表示時(shí)間t處功率變化率， ΘP表示短時(shí)功率波動(dòng)判定閾值； 步驟S3包括： 將時(shí)間序列趨勢(shì)P't與歷史功率數(shù)據(jù)PH進(jìn)行對(duì)比： Dt＝P′t-PH， 其中，Dt表示時(shí)間t處的功率下降量，PH表示對(duì)應(yīng)時(shí)間段的歷史平均功率值， 若滿足： |Dt|ΘD，則判定功率下降異常，其中， ΘD表示功率下降判定閾值； 結(jié)合光照模型進(jìn)行分析： 設(shè)光照強(qiáng)度數(shù)據(jù)集為：I＝{I1,I2,…,IL}， 其中，I表示光照強(qiáng)度數(shù)據(jù)集，Il表示第l個(gè)時(shí)間點(diǎn)的光照強(qiáng)度，L表示光照強(qiáng)度數(shù)據(jù)的總采樣點(diǎn)數(shù)， 采用光照功率映射模型FI計(jì)算光照影響，公式為： PH＝FI， 其中FI采用多項(xiàng)式回歸模型表示，表示為： FI＝c0+c1I+c2I2+…+ckIK， 其中，ck為回歸系數(shù)，K為多項(xiàng)式階數(shù)， 計(jì)算光照調(diào)整后的功率偏差，計(jì)算公式為： D′t＝P′t-FIt， 若|D't|ΘD，則標(biāo)記為異常情況。

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