中國電子科技集團公司第十四研究所李世康獲國家專利權
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龍圖騰網獲悉中國電子科技集團公司第十四研究所申請的專利一種基于波前偏振態空間分布的電磁場測角方法獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN115540813B 。
龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-08-29發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202210937816.1，技術領域涉及：G01C1/00；該發明授權一種基于波前偏振態空間分布的電磁場測角方法是由李世康;陶仁拓;陳建軍;劉佑達設計研發完成，并于2022-08-05向國家知識產權局提交的專利申請。
本一種基于波前偏振態空間分布的電磁場測角方法在說明書摘要公布了：本發明提出一種基于波前偏振態空間分布的電磁場測角方法，旨在解決偏振態空間分布不一致時的電磁場的單脈沖測角問題，本發明能消除偏振態空間不一致性引入的誤差。本發明通過處理雙極化數字陣輸出的電磁場幅相數據，提取電磁場的四個斯托克斯參數用以描述偏振態及其空間分布，進而計算幾何相并推導電磁波入射角的準確計算公式。
本發明授權一種基于波前偏振態空間分布的電磁場測角方法在權利要求書中公布了：1.一種基于波前偏振態空間分布的電磁場測角方法，其特征在于，該方法步驟如下： 步驟1、電磁場波前斯托克斯參數提取 步驟1.1、對于所有數字陣陣元，依據兩個極化通道的電磁場復振幅測量值，計算每個陣元的斯托克斯參數，并暫存以待步驟2使用；每一個陣元均計算S0～S3四個斯托克斯參數； 步驟1.2、根據斯托克斯參數繪制出各陣元處的偏振態，得到整個電磁場的偏振分布； 步驟2、計算幾何相和偏振態指向角 本步驟基于步驟1導出的斯托克斯參數，計算幾何相ψx,y與偏振態指向角ψSx,y，作為后續測角方法用到的關鍵中間變量，x,y為雙極化數字陣陣元的直角坐標； 步驟3、計算電磁場不同位置拓撲荷分布 為區別于x,y，引入二維直角坐標u,v，下面計算電磁場拓撲荷分布Cu,v； 步驟3.1、從直角坐標系中選取一組二維直角坐標u,v，u,v作為極坐標系的原點，用于計算電磁場拓撲荷分布Cu,v； 步驟3.2、對步驟1求得的第一斯托克斯參數S0x,y和第四斯托克斯參數S3x,y進行坐標變換； 步驟3.3、對步驟2求得的幾何相ψx,y和偏振態指向角ψSx,y進行坐標轉換； 步驟3.4、計算電磁場拓撲荷分布Cu,v； 步驟4、計算待測的電磁波入射角，計算方位角和俯仰角； 重復步驟3和步驟4，針對不同的u,v重新計算。
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1、本報告根據公開、合法渠道獲得相關數據和信息，力求客觀、公正，但并不保證數據的最終完整性和準確性。
2、報告中的分析和結論僅反映本公司于發布本報告當日的職業理解，僅供參考使用，不能作為本公司承擔任何法律責任的依據或者憑證。
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