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龍圖騰網(wǎng)獲悉榮耀終端有限公司申請(qǐng)的專(zhuān)利干擾信號(hào)的測(cè)試方法和電子設(shè)備獲國(guó)家發(fā)明授權(quán)專(zhuān)利權(quán)，本發(fā)明授權(quán)專(zhuān)利權(quán)由國(guó)家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局授予，授權(quán)公告號(hào)為：CN117825822B 。

龍圖騰網(wǎng)通過(guò)國(guó)家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局官網(wǎng)在2025-08-29發(fā)布的發(fā)明授權(quán)授權(quán)公告中獲悉：該發(fā)明授權(quán)的專(zhuān)利申請(qǐng)?zhí)?專(zhuān)利號(hào)為：202211191871.7，技術(shù)領(lǐng)域涉及：G01R31/00；該發(fā)明授權(quán)干擾信號(hào)的測(cè)試方法和電子設(shè)備是由張桐愷;雷奮星設(shè)計(jì)研發(fā)完成，并于2022-09-28向國(guó)家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局提交的專(zhuān)利申請(qǐng)。

本干擾信號(hào)的測(cè)試方法和電子設(shè)備在說(shuō)明書(shū)摘要公布了：本申請(qǐng)實(shí)施例適用于靜電測(cè)試領(lǐng)域，提供一種干擾信號(hào)的測(cè)試方法和電子設(shè)備，應(yīng)用于靜電放電ESD測(cè)試系統(tǒng)中，ESD測(cè)試系統(tǒng)包括靜電發(fā)生器、待測(cè)電子設(shè)備和信號(hào)檢測(cè)設(shè)備，該方法包括：獲取第一電壓信號(hào)，第二電壓信號(hào)和第三電壓信號(hào)，然后根據(jù)第一電壓信號(hào)、第二電壓信號(hào)和第三電壓信號(hào)得到第一檢測(cè)點(diǎn)和第二檢測(cè)點(diǎn)之間的第一干擾信號(hào)。在本申請(qǐng)的實(shí)施例中，通過(guò)接入方向不同的第一電壓信號(hào)和第二電壓信號(hào)可以對(duì)信號(hào)檢測(cè)設(shè)備中探頭、差分放大模塊以及信號(hào)檢測(cè)設(shè)備內(nèi)部的采樣電路帶來(lái)干擾信號(hào)進(jìn)行校正，并通過(guò)絕緣裝置使得第一檢測(cè)點(diǎn)和第二檢測(cè)點(diǎn)之間電路環(huán)路中引入的干擾信號(hào)進(jìn)行校正，提高了第一干擾信號(hào)的準(zhǔn)確性。

本發(fā)明授權(quán)干擾信號(hào)的測(cè)試方法和電子設(shè)備在權(quán)利要求書(shū)中公布了：1.一種干擾信號(hào)的測(cè)試方法，其特征在于，應(yīng)用于靜電放電ESD測(cè)試系統(tǒng)中，所述ESD測(cè)試系統(tǒng)包括靜電發(fā)生器、待測(cè)電子設(shè)備和信號(hào)檢測(cè)設(shè)備，所述待測(cè)電子設(shè)備上包括第一檢測(cè)點(diǎn)和第二檢測(cè)點(diǎn)，所述信號(hào)檢測(cè)設(shè)備包括第一探頭、第二探頭和差分放大模塊，所述靜電發(fā)生器與所述第一檢測(cè)點(diǎn)連接，所述信號(hào)檢測(cè)設(shè)備與所述待測(cè)電子設(shè)備連接，所述靜電發(fā)生器用于輸出靜電信號(hào)，所述信號(hào)檢測(cè)設(shè)備用于通過(guò)所述第一探頭和所述第二探頭檢測(cè)所述第一檢測(cè)點(diǎn)和所述第二檢測(cè)點(diǎn)之間的信號(hào)，所述方法包括： 獲取第一電壓信號(hào)，所述第一電壓信號(hào)為在第一連接狀態(tài)所述第一檢測(cè)點(diǎn)和所述第二檢測(cè)點(diǎn)之間的信號(hào)，所述第一連接狀態(tài)是指所述第一探頭與所述第一檢測(cè)點(diǎn)連接，且所述第二探頭與所述第二檢測(cè)點(diǎn)連接的連接狀態(tài)； 獲取第二電壓信號(hào)，所述第二電壓信號(hào)為在第二連接狀態(tài)所述第一檢測(cè)點(diǎn)和所述第二檢測(cè)點(diǎn)之間的信號(hào)，所述第二連接狀態(tài)是指所述第一探頭與所述第二檢測(cè)點(diǎn)連接，且所述第二探頭與所述第一檢測(cè)點(diǎn)連接的連接狀態(tài)； 獲取第三電壓信號(hào)，所述第三電壓信號(hào)為在第三連接狀態(tài)所述第一檢測(cè)點(diǎn)和所述第二檢測(cè)點(diǎn)之間的信號(hào)，所述第三連接狀態(tài)是指在所述第一檢測(cè)點(diǎn)與所述第二檢測(cè)點(diǎn)之間通過(guò)絕緣裝置連接的連接狀態(tài)； 對(duì)第一電壓信號(hào)與所述第二電壓信號(hào)作差，得到第四電壓信號(hào)，所述第四電壓信號(hào)通過(guò)第一公式表示，所述第一公式包括： V1＝△V1-△V2＝VAB+Vloop+Vub_needle*aRingingf； 所述V1表示所述第四電壓信號(hào)，所述△V1表示所述第一電壓信號(hào)，所述△V2表示所述第二電壓信號(hào)，所述VAB表示靜電干擾信號(hào)，所述Vloop表示所述靜電信號(hào)在第一探針和第二探針之間的電路環(huán)路產(chǎn)生的干擾信號(hào)，所述Vub_needle表示所述第一探針和所述第二探針之間的差模干擾信號(hào)，所述aRingingf是指預(yù)設(shè)的校正系數(shù)； 其中，所述第一電壓通過(guò)第二公式表示，所述第二電壓信號(hào)通過(guò)第三公式表示； 所述第二公式包括： △V1＝VAB+Vloop+Vub_needle+Vub_probe+Vcomm*aRingingf； 所述第三公式包括： △V2＝[-VAB+-Vloop+-Vub_needle+Vub_probe+Vcomm]*aRingingf； 所述Vub_probe表示所述信號(hào)檢測(cè)設(shè)備通過(guò)所述第一探頭和所述第二探頭之間測(cè)試鏈路引入的差模干擾信號(hào)，所述Vcomm表示所述差分放大模塊產(chǎn)生的共模干擾信號(hào)； 基于所述第三電壓信號(hào)和所述第四電壓信號(hào)的差值對(duì)所述靜電信號(hào)在所述第一探針和所述第二探針之間的電路環(huán)路產(chǎn)生的干擾信號(hào)、所述第一探針和所述第二探針之間的差模干擾信號(hào)進(jìn)行校正，得到第一干擾信號(hào)； 其中，所述第三電壓信號(hào)通過(guò)第四公式表示，所述第四公式包括： V2＝Vloop+Vub_needle*aRingingf； 所述V2表示所述第三電壓信號(hào)。

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